A.掃描速度
B.分辨力
C.穿透能力
D.靈敏度
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A.CSK-ⅠA 試塊
B.CSK-ⅢA 試塊
C.ⅡW 試塊
D.半圓試塊
A.人員應(yīng)具備的資格
B.所需設(shè)備器材
C.檢測工藝
D.缺陷的質(zhì)量分級(jí)
A.不以退磁
B.能實(shí)現(xiàn)多向磁化
C.探測缺陷深度小
D.有利于磁粉遷移
A.D=2時(shí)的最小梯度
B.D=4時(shí)的最大梯度
C.D=2時(shí)的最大顆粒度
D.D=2時(shí)的最大梯度噪聲比
A.氧化鎂
B.氧化鋅
C.碳酸鈉
D.氧化鈦
A.顆粒度大
B.顆粒度小
C.成像模糊
D.成像清晰
A.檢測速度
B.檢測效率
C.檢測靈敏度
D.檢測準(zhǔn)確度
A.用符號(hào)AC 表示
B.用符號(hào)DC 表示
C.電流表指示平均值
D.電流表指示有效值
A.使始波寬度增大
B.使分辨力變好
C.使靈敏度提高
D.使靈敏度降低
A.脈沖波
B.斷續(xù)波
C.連續(xù)波
D.任何波
最新試題
磁粉檢測用的黑光燈發(fā)出的光包含有(),而把不需要的光線用濾光片過濾掉。
筒形或環(huán)形鍛件的鍛造工藝是先鐓粗,后沖孔,再滾壓。因此,缺陷的取向比軸類鍛件和餅類鍛件中的缺陷取向復(fù)雜。所以對(duì)這類鍛件一般采用()進(jìn)行檢測。
當(dāng)障礙物尺寸Df< < 波長λ時(shí),會(huì)出現(xiàn)以下()等現(xiàn)象。
表面活性劑分子在水或水溶液表面的吸附近于飽和時(shí),水或水溶液的極性表面在很大程度上就被表面活性劑分子覆蓋,這時(shí)水或水溶液的()。
滲透檢測通常在()前進(jìn)行,表面處理后局部加工時(shí)需再次檢測。
按照受檢材料的相容性,可將滲透劑分為()滲透劑。
下列關(guān)于照射場的大小對(duì)散射比的影像的說法,錯(cuò)誤的有()。
屬于γ射線探傷設(shè)備的操作故障有()。
對(duì)底片進(jìn)行評(píng)定時(shí),首先對(duì)底片進(jìn)行質(zhì)量檢查,不滿足要求的底片不予評(píng)定,質(zhì)量檢查項(xiàng)目有()。
影響定影的因素主要有()。