A.介質(zhì)表面
B.距離
C.探頭
D.磁極
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.工件的形狀
B.工件的位置
C.工件的大小
D.工件的質(zhì)地
A.1.0-1.1N
B.1.20-1.35N
C.1.65-1.95N
D.1.96-4.9N
A.儀器存放柜
B.電腦
C.書桌
A.液流
B.交變電流
C.整流
D.阻抗流
A.聲阻抗
B.聲波
C.電阻
D.聲音大小
A.疏解波
B.壓縮波
C.反橫向波
D.稠密波
A.精確測(cè)量法
B.簡(jiǎn)略測(cè)量法
C.波高限度法
D.大致限度法
A.接收
B.轉(zhuǎn)化
C.轉(zhuǎn)變
D.固定
A.600A/m
B.700A/m
C.800A/m
D.900A/m
A.實(shí)際尺寸
B.設(shè)計(jì)尺寸
C.儀器準(zhǔn)確率
D.儀器重復(fù)頻率
最新試題
用于測(cè)量黑光強(qiáng)度的現(xiàn)代黑光輻射照度計(jì),其探頭(傳感器)的光敏組件的前面有(),只適用于測(cè)量黑光。
在聲束垂直試件表面時(shí),所獲得的()反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。
特性是指實(shí)體所特有的性質(zhì),它反映子實(shí)體滿足需要的()
直接射向缺陷的波就是()
渦流檢測(cè)輔助裝置的試樣傳動(dòng)裝置在()材生產(chǎn)線上的應(yīng)用最為廣泛。
對(duì)于圓盤形試件,常沿()在圓面上進(jìn)行掃查。
磁性測(cè)厚技術(shù)包括機(jī)械式和()兩種測(cè)量方法。
渦流檢測(cè)線圈的互感線圈一般由()構(gòu)成。
當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時(shí),如果聲束軸線移到缺陷邊緣,缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時(shí)波高的()
對(duì)于接觸法只須將能使缺陷落在其遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動(dòng),即可獲得缺陷的()所在的位置,從而定出缺陷的平面位置。