A. 缺陷的性質(zhì)和大小
B. 缺陷的形狀和取向
C. 缺陷的回波幅度和時(shí)間距離
D. 超聲波的波形
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A.聲程調(diào)節(jié)法
B.水平距離調(diào)節(jié)法
C.深度調(diào)節(jié)法
D.以上都是
A. 6 dB
B. 12 dB
C. 用實(shí)驗(yàn)方法測(cè)定的補(bǔ)償分貝值
D. 任意規(guī)定補(bǔ)償值
A. 不考慮探傷面耦合差的補(bǔ)償
B. 不考慮材質(zhì)衰減的補(bǔ)償
C. 不必使用試塊
D. 以上都對(duì)
A. 耦合劑
B. 探頭線
C. 儀器
D. 缺陷
A. 耦合層厚度
B. 超聲波在耦合介質(zhì)中的波長(zhǎng)
C. 耦合介質(zhì)聲阻抗
D. 以上都對(duì)
A. 透射
B. 折射
C. 共振
D. 波形轉(zhuǎn)換
A. 透射
B. 反射
C. 共振
D. 波形轉(zhuǎn)換
A. 共振法
B. 水浸法
C. 滲透法
D. 以上都不對(duì)
A. 2倍
B. 1/2倍
C. 1倍
D. 1/4倍
A. ≤1 dB
B. ≤2 dB
C. ≤6 dB
D. ≤8 dB
最新試題
驗(yàn)證滲透劑綜合性能的常用方法是:在具有人工裂紋的A型鋁合金標(biāo)準(zhǔn)試塊上的兩個(gè)部分作對(duì)比試驗(yàn)。
用顯像劑把滲入缺陷內(nèi)的滲透液吸附出來(lái)的原理是基于液體的毛細(xì)作用。
溫度過低時(shí)不能用明火加熱探傷液進(jìn)行探傷。
顯像劑有助于檢出滯留在缺陷內(nèi)的滲透劑是由于清洗作用。
液體的毛細(xì)作用力決定于表面張力與接觸角。
比較兩種滲透劑裂紋探測(cè)靈敏度的較好方法是用帶裂紋的A型鋁試塊。
采用噴洗法去除殘留于工件表面的滲透液時(shí),粘度低的滲透劑不容易從裂紋中除掉。
直接使用白色干粉,能取得較鮮明的顯示跡痕的顯像方法是無(wú)顯像劑式顯像法。
能夠正確反映滲透探傷靈敏度的試塊應(yīng)具備的條件是具有寬度要求和相當(dāng)長(zhǎng)度的表面裂紋、具有規(guī)定深度的表面裂紋、裂紋內(nèi)部不存在粘污物。
對(duì)工件表面預(yù)處理時(shí)一般不推薦采用噴砂處理是因?yàn)榭赡馨压ぜ砻嫣幚淼牟桓蓛簟?/p>