A、模塊故障,要安裝模塊;模塊上接觸器臟或損壞
B、UV視窗或OI環(huán)臟;UVOI環(huán)被忽略
C、檢測(cè)到UV和IR發(fā)射源
D、IR視窗或OI環(huán)臟;IROI環(huán)故障
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A、模塊故障,要安裝模塊;模塊上接觸器臟或損壞
B、UV視窗或OI環(huán)臟;UVOI環(huán)被忽略
C、檢測(cè)到UV和IR發(fā)射源
D、IR視窗或OI環(huán)臟;IROI環(huán)故障
A、組態(tài)有問(wèn)題,重新組態(tài)
B、探頭一直處于上電時(shí)間延時(shí)狀態(tài),等到探頭退出延時(shí),更換探頭
C、電源失??;電源或LON接線問(wèn)題;探頭電子故障
D、內(nèi)部電源問(wèn)題,更換探頭
A、組態(tài)有問(wèn)題,重新組態(tài)
B、探頭一直處于上電時(shí)間延時(shí)狀態(tài),等到探頭退出延時(shí),更換探頭
C、電源失?。浑娫椿騆ON接線問(wèn)題;探頭電子故障
D、內(nèi)部電源問(wèn)題,更換探頭
A、組態(tài)有問(wèn)題,重新組態(tài)
B、探頭一直處于上電時(shí)間延時(shí)狀態(tài),等到探頭退出延時(shí),更換探頭
C、電源失??;電源或LON接線問(wèn)題;探頭電子故障
D、內(nèi)部電源問(wèn)題,更換探頭
A、組態(tài)有問(wèn)題,重新組態(tài)
B、探頭一直處于上電時(shí)間延時(shí)狀態(tài),等到探頭退出延時(shí),更換探頭
C、電源失??;電源或LON接線問(wèn)題;探頭電子故障
D、內(nèi)部電源問(wèn)題,更換探頭
A、組態(tài)有問(wèn)題,重新組態(tài)
B、探頭一直處于上電時(shí)間延時(shí)狀態(tài),等到探頭退出延時(shí),更換探頭
C、電源失敗;電源或LON接線問(wèn)題;探頭電子故障
D、內(nèi)部電源問(wèn)題,更換探頭
A、探頭通訊電路COM1有問(wèn)題
B、在OIS上旁通已激活
C、IR模塊有故障
D、UV模塊有故障
A、探頭通訊電路COM1有問(wèn)題
B、在OIS上旁通已激活
C、IR模塊有故障
D、UV模塊有故障
A、修理接線故障
B、使用寫(xiě)EEPROM命令修改EEPROM拷貝
C、更換被忽略的電路板
D、重新對(duì)探頭進(jìn)行組態(tài)
A、修理已壞的板
B、拆除額外的板,或?qū)Ω郊影暹M(jìn)行組態(tài)
C、更換被忽略的電路板
D、重新對(duì)探頭進(jìn)行組態(tài)
最新試題
敷設(shè)管纜應(yīng)留有適當(dāng)?shù)膫溆眯緮?shù)與長(zhǎng)度,固定時(shí)應(yīng)保持其自然繞度,彎曲半徑不得小于管子外徑的()倍
電磁閥通常在管路中起的作用是()
套筒閥不能用于()
介質(zhì)中含懸浮顆粒,并且黏度較高,要求泄露量小應(yīng)選用下列哪種閥門(mén)()
加到系統(tǒng)上的干擾信號(hào)(干擾量),由原來(lái)數(shù)值()到另一數(shù)值上,并繼續(xù)保持此值不變,這就是階躍干擾
由于被分析氣體的千差萬(wàn)別和分析原理的多種多樣,氣體分析儀的種類繁多常用的有()
在溶氧分析儀中,一定范圍內(nèi)水樣流速增大,致使()增大,從而使去極化電流增大
保護(hù)管彎制要使用彎管機(jī)冷彎,單根護(hù)管的直角彎不得超過(guò)()
露點(diǎn)分析儀在通常情況下,每隔()天對(duì)反射鏡應(yīng)當(dāng)作一次清潔
露點(diǎn)分析儀的傳感器包含一個(gè)表面鍍()的惰性()反射鏡