A、圓形缺陷是按規(guī)定評定區(qū)框線內(nèi)缺陷折算成點數(shù)來評定的。由于不同的評片人員使用評定區(qū)框線的誤差、框線放置的差異及測量誤差,將引起缺陷尺寸的差異,而缺陷尺寸的差異,必然引起折算點數(shù)的差異(如4mm折算成6點,4.01mm折算成10點),就是對同一個評片人也會出現(xiàn)級別的差異,因此容器制造廠驗收或RT人員實際考試也允許這種差異
B、雖然制造廠100%透照,由于缺陷處于底片的部位不同,特別是外透照的端部端部缺陷與中心一次全曝光的底片相比,前者缺陷拉長,后者缺陷較小,就是同一個評片人用同一套工具測量缺陷,也會出現(xiàn)不同的結論
C、AB均是強詞奪理,應評為不合格,屬于產(chǎn)品質量問題,退修
D、AB是對的,這屬于照相技術本身的問題,非屬產(chǎn)品質量的問題
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A、通常情況下必須選擇這樣的曝光量,這主要是限制操作者采用高管電壓(降低對比度),短焦距(降低幾何不清晰度)快速照相的不良做法,確保底片的靈敏度和X光射線機安全運行
B、特殊情況下,不受限制
C、對于小直徑管子對接焊縫,也可采用“高能量短時間”操作,這又是一個特例
D、以上都對
A、L1≥2L3
B、L1≥3L3
C、L1≥1.5L3
D、以上都不對
A、衛(wèi)生部門辦理
B、公安部門辦理
C、環(huán)保部門辦理
D、上級主管部門辦理
A、2
B、5
C、4
D、3
A、沿焊縫方向,評定區(qū)可以向左也可以向右平行擴大3倍且保證擴大后的評定區(qū)處于缺陷較嚴重的部位
B、求出缺陷的總點數(shù),用此值的1/3進行評定
C、如果擴大后的評定區(qū)內(nèi)還包含有條狀夾渣或未焊透,則需要綜合評級
D、以上都是
A、評定區(qū)內(nèi)不包含條狀夾渣或未焊透,評定區(qū)附近缺陷較少,且認為只用該評定區(qū)大小劃分級別不適當。
B、評定區(qū)內(nèi)缺陷點數(shù)小于等于可擴大評定區(qū)的缺陷點數(shù)上的限值
C、經(jīng)供需雙方同意
D、以上都是
A、射線源側
B、膠片側
C、兩側均可
D、以上都對
A、評定區(qū)框線的長邊要與焊縫平行
B、框線內(nèi)必須完整包含最嚴重區(qū)域內(nèi)的主要缺陷
C、框線外切的不計點數(shù),相隔的計算在內(nèi)
D、以上都是
A、透照距離不變,透照厚度均一,所得底片黑度,靈敏度也均一,成象質量與優(yōu)于其它透照方式
B、失真角為a,對焊縫中橫向缺陷的檢查率最高
C、一次曝光就能完成整條環(huán)縫的透照,檢測效率高
D、以上都是
A、dz-1=1.25dz
B、dz-1=0.8dz
C、dz+1=1.25dz
D、以上都不對
最新試題
各種電氣設備都有各自的保護系統(tǒng),X 射線機的保護系統(tǒng)主要有()。
對底片進行評定時,首先對底片進行質量檢查,不滿足要求的底片不予評定,質量檢查項目有()。
磁性成像可分為磁場成像和磁性成像,對其描述正確的有()。
筒形或環(huán)形鍛件的鍛造工藝是先鐓粗,后沖孔,再滾壓。因此,缺陷的取向比軸類鍛件和餅類鍛件中的缺陷取向復雜。所以對這類鍛件一般采用()進行檢測。
板波的類型有()。
當障礙物尺寸Df< < 波長λ時,會出現(xiàn)以下()等現(xiàn)象。
產(chǎn)生干涉的兩列相干波,在振動時會產(chǎn)生不同的波程差,波程差與波長相關聯(lián),所以不同的波程差會出現(xiàn)()等現(xiàn)象。
按照受檢材料的相容性,可將滲透劑分為()滲透劑。
磁粉檢測用的黑光燈發(fā)出的光包含有(),而把不需要的光線用濾光片過濾掉。
超聲場中波源軸線上任一點聲壓的幅值與下列()等因素有關。