A.改善圖像分辨率
B.改善底片灰霧度
C.縮短曝光時(shí)間
D.提高影像清晰度
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A.清晰度高
B.不易出現(xiàn)偽像
C.使用壽命長(zhǎng)
D.A、B和C
A.產(chǎn)生光電子
B.產(chǎn)生可見(jiàn)光
C.產(chǎn)生γ射線
D.A、B和C
A.3.2rem
B.1.6rem
C.0.8rem
D.0.4rem
A.α射線
B.中子射線
C.X射線
D.γ射線
A.暗
B.亮
C.與透過(guò)底片的光亮度相同
D.以上都不對(duì)
A.盡可能暗
B.盡可能亮
C.盡可能與透過(guò)底片光線亮度相同
D.任意選擇
A.1
B.3
C.5
D.7
A.活度
B.尺寸
C.比活度
D.能量
A.60Co
B.192Ir
C.137Cs
D.12Tm
A.30.5mm
B.10.5mm
C.40.6mm
D.21.5mm
最新試題
聚焦聲源發(fā)射的聲場(chǎng)特點(diǎn)是()。
潤(rùn)濕是受檢表面附著的氣體被滲透液體所取代的現(xiàn)象,發(fā)生潤(rùn)濕時(shí)()。
探頭主聲束()將會(huì)影響對(duì)缺陷的定位和判別。
表面波檢測(cè)中,利用表面波檢測(cè)()效果好。
鑄件熒光滲透檢測(cè)時(shí),()。
大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用()填補(bǔ)工件的較薄部分,使透照厚度差減小的方法。
單晶體金屬特點(diǎn)有()。
與一次射線相比,散射線的()。
冷裂紋常見(jiàn)的有()。
磁場(chǎng)信號(hào)測(cè)量中可采用()方法。