A.金屬表面的腐蝕裂紋
B.原子序數(shù)低、厚度小物體的層析射線照相
C.厚度很大物體的表面層內(nèi)部缺陷
D.A、B和C
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A.距離
B.連線
C.直線斜率
D.以上都不是
A.不大于曝光曲線推薦的最小值
B.不小于曝光曲線推薦的最小值
C.不小于曝光曲線推薦的最大值
D.以上都不是
A、曲線的梯度
B、寬容度
C、對(duì)比度的平均梯度
D、黑度
A.射線的能量
B.幾何因素與膠片粒度
C.膠片的反差系數(shù)
D.A、B和C
A.2
B.0.45
C.3
D.2.2
A.10min
B.20min
C.30min
D.40min
A.小于80s
B.大于80s
C.等于80s
D.以上都不對(duì)
A.能量
B.強(qiáng)度
C.指向性
D.工件厚度與焦距的比值
A.乳膠厚度
B.含銀量
C.溴化銀的粒度
D.電離能力
A.片基
B.乳劑層
C.保護(hù)層
D.A、B和C
最新試題
顯影斑紋呈黑色條狀或?qū)拵?,在整張底片范圍出現(xiàn),其產(chǎn)生的原因是()。
工藝評(píng)定試件焊后應(yīng)進(jìn)行()。
Z 超聲波檢測(cè)鑄件時(shí)可作為缺陷記錄的是()。
無(wú)損檢測(cè)設(shè)備、材料采購(gòu)驗(yàn)收內(nèi)容包括()驗(yàn)收。
非熒光磁粉檢測(cè)時(shí),可見(jiàn)光照度不小于1000lx,并應(yīng)避免()。
在沒(méi)有外加磁場(chǎng)作用時(shí),鐵磁性材料內(nèi)出現(xiàn)()現(xiàn)象。
超聲波檢測(cè)發(fā)現(xiàn)缺陷,在不同的方向上檢測(cè),缺陷回波呈現(xiàn)此起比伏互相彼連的狀態(tài),判定為()。
與一次射線相比,散射線的()。
采用橫波斜探頭在圓柱曲面外圓進(jìn)行周向檢測(cè)時(shí),缺陷定位說(shuō)法正確的有()。
對(duì)滲透探傷無(wú)影響的是()。