以下試塊中，能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是（）

射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識(shí)別性主要決定于（）

某超聲波探頭，壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm，則該探頭工作頻率為（）

一般認(rèn)為表面波探測(cè)的有效深度約為（）

當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí)，部分被物體吸收，部分則穿透該物體，還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射，此散射為（）

原子是元素的具體存在，是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。

下列對(duì)耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述，不正確的一項(xiàng)是（）

二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝，以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（）

超聲波探頭上標(biāo)稱的頻率是（）

底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是（）