A.測定粘度
B.測定侵濕性
C.人工裂紋對比試塊
D.測定染色度
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A.滲透
B.清洗
C.觀察
D.顯像
E.上述都包括
A.近表面缺陷
B.表面和近表面缺陷
C.表面缺陷
D.內(nèi)部缺陷
A.與被檢表面形成高對比度
B.與被檢表面形成低對比度
C.能粘附在被檢工件表面上
D.磁導(dǎo)率越低越好
A.縱向磁場、橫向缺陷
B.周向磁場、縱向缺陷
C.縱向磁場、縱向缺陷
D.周向磁場、橫向缺陷
A.表面裂紋形成的強(qiáng)
B.近表面裂紋形成的強(qiáng)
C.兩者無區(qū)別
D.上述都不對
A.材料被磁化難易程度
B.材料中磁場的穿透深度
C.工件需要退磁時間的長短
D.保留磁場的能力
A.檢測非鐵磁性材料表面和近表面缺陷
B.檢測鐵磁性材料表面和近表面缺陷
C.檢測鐵磁性材料內(nèi)部缺陷
D.各種不同材料的分選
A.探測熱影響區(qū)裂縫
B.探測可能影響斜探頭探測結(jié)果的分層
C.提高焊縫兩側(cè)母材驗收標(biāo)準(zhǔn),以保證焊縫質(zhì)量
D.以上都對
A.讓工件充分冷卻
B.焊縫材料組織需穩(wěn)定
C.冷裂紋有延時產(chǎn)生的特點
D.以上都對
A.底波降低或消失
B.噪聲或雜波增大
C.超聲波嚴(yán)重衰減
D.以上都有
最新試題
影響較大的散射線通常來自()
若評片燈亮度增為原來的兩倍,則底片透光度(It/I0)變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>
物質(zhì)對輻射的吸收是隨什么而變()
最容易發(fā)生康普頓效應(yīng)的射線能量為()
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()
對軸類鋼制鍛件,用2.5P14的直探頭,在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時,該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于()
以下試塊中,能用于測定縱波直探頭分辨力的是()
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()
通常所謂20KV的X射線是指()
對于鉬靶X射線管,在管電壓低于()千伏時是不會產(chǎn)生特征X射線的。