A.牛(頓)
B.安(培)
C.焦(耳)
D.特(克斯)
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.點(diǎn)接觸
B.線接觸
C.圓接觸
D.面接觸
A.設(shè)計(jì)基準(zhǔn)
B.定位基準(zhǔn)
C.工藝基準(zhǔn)
D.裝配基準(zhǔn)
A.標(biāo)識(shí)﹔
B.儲(chǔ)存﹔
C.保護(hù)﹔
D.檢索﹔
E.保存期限.
A.“拋一枚硬幣”的樣本空間Ω={正面,反面}
B.“擲一顆骰子”的樣本空間Ω={0,1,2,3,4,5,6}
C.“一顧客在超市中購買商品件數(shù)”的樣本空間Ω={0,1,2,„}
A.樣本極差
B.樣本方差
C.樣本均值
D.樣本標(biāo)準(zhǔn)差
A.分析到第一層
B.分析到不能再往下分析
C.針對(duì)某一方面的原因分析到直接采取對(duì)策的具體因素為止
D.想到哪就分析到哪
A.含有機(jī)遇原因
B.組間變異可以區(qū)隔
C.管制變異應(yīng)可區(qū)隔
D.以上皆是
A.不良數(shù)
B.長(zhǎng)度
C.時(shí)間
D.強(qiáng)度
A.不合格品率p控制圖
B.均值-極差X-R控制圖
C.不合格數(shù)c控制圖
D.不合格品數(shù)np控制圖
A.檢驗(yàn)產(chǎn)品、保證、監(jiān)督
B.保證、預(yù)防、監(jiān)督
C.檢驗(yàn)產(chǎn)品、預(yù)防、報(bào)告
D.保證、預(yù)防、報(bào)告、監(jiān)督
最新試題
測(cè)量過程有四個(gè)要素,即:測(cè)量對(duì)象、()、測(cè)量方法與測(cè)量精度。
SER因素辨識(shí)的三種時(shí)態(tài)為過去、()、將來。
光學(xué)投影機(jī)量測(cè)原理系利用,強(qiáng)光照射被測(cè)工件,經(jīng)()將待量測(cè)工件之外輪廓以放大若干倍顯現(xiàn)于投影屏上.
管制圖依據(jù)數(shù)據(jù)特性來分類,分為()、計(jì)數(shù)值管制圖。
在()情況下﹐管制圖需重新制定.
企業(yè)內(nèi)部質(zhì)量檢驗(yàn)所進(jìn)行之基本類型有().
ISO900:2000版標(biāo)準(zhǔn)中表述的供應(yīng)鏈關(guān)系為﹕()→組織→客戶。
用特性要因圖追查原因時(shí),一般確定()個(gè)主要原因。
按被檢產(chǎn)品數(shù)量,檢驗(yàn)可分為().
金屬材料的硬度常用().