A.安培
B.安匝
C.瓦特
D.歐姆
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A.膠帶紙可以遮蓋試片刻槽部位
B.試片刻槽面應(yīng)與零部件表面密貼
C.“+”刻槽中應(yīng)有一條刻槽與被探測(cè)零部件的中心線平行
D.用膠帶沿試片四周呈“井”字形將試片粘貼牢固、平整
A.3.14倍
B.1.57倍
C.2倍
D.1.41倍
A.干法探傷
B.濕法探傷
C.渦流探傷
D.以上都不對(duì)
A.縱向磁場(chǎng)
B.環(huán)形磁場(chǎng)
C.交變磁場(chǎng)
D.螺旋形磁場(chǎng)
A.適應(yīng)各種工件的磁特性
B.適應(yīng)各種磁化電流要求
C.適應(yīng)各種顏色工件表面,以提高對(duì)比度
D.適應(yīng)各種工件的磁化規(guī)范
A.周向磁化
B.縱向磁化
C.一樣有害
D.以上都對(duì)
A.0.2~0.5s
B.0.5~1.0s
C.0.5~0.7s
D.0.5~1.2s
A.1~9
B.1~5
C.10~15
D.8~15
A.1:1~1:3
B.2:1~1:3
C.1:3~1:3
D.1:1~1:8
A.1.2~3.0
B.0.3~0.6
C.0.1~0.6
D.0.1~1.6
最新試題
以下試塊中,能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是()
超聲波斜探頭的K值等于()的正切值。
原子是元素的具體存在,是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。
影響較大的散射線通常來自()
底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是()
不同材料的相對(duì)吸收系數(shù)()
當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí),部分被物體吸收,部分則穿透該物體,還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射,此散射為()
在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)(r、R為簡(jiǎn)體的內(nèi)、外徑),斜探頭(β為折射角)的臨界角應(yīng)滿足()
對(duì)于鉬靶X射線管,在管電壓低于()千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。
射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識(shí)別性主要決定于()