A.可全面觀察全口牙齒發(fā)育情況及上下頜骨情況
B.可用于研究顱面生長(zhǎng)發(fā)育情況
C.可顯示上下牙的牙冠部
D.可顯示上頜前部全貌
E.可顯示下頜體和牙弓的橫斷面影像
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A.可用于檢查髁狀突及關(guān)節(jié)凹情況
B.可全面觀察全口牙齒發(fā)育情況及上下頜骨情況
C.可用于了解生長(zhǎng)發(fā)育情況、評(píng)估生長(zhǎng)發(fā)育的潛力
D.可顯示多生牙、缺失牙、阻生牙牙長(zhǎng)軸傾斜、牙根有無(wú)根尖病變等
E.可用于研究顱面生長(zhǎng)發(fā)育情況
A.X線頭影測(cè)量
B.牙片
C.咬合片
D.胸片
E.口腔頜面部CT常規(guī)掃描檢查
A.牙弓擁擠度的測(cè)量和計(jì)算
B.牙弓寬度的測(cè)量
C.診斷排牙試驗(yàn)
D.Moyers預(yù)測(cè)分析法
E.X線頭影測(cè)量
是發(fā)育階段中哪一期的計(jì)算公式()
A.乳牙期
B.混合牙列期
C.恒牙期
D.青春期
E.成人期
在口腔不良習(xí)慣中不易造成開(kāi)者是()
A.吮指習(xí)慣
B.舌習(xí)慣
C.咬物習(xí)慣
D.伸舌習(xí)慣
E.偏側(cè)咀嚼習(xí)慣
A.模型分析
B.牙齒、口腔衛(wèi)生檢查
C.顳下頜關(guān)節(jié)檢查
D.詢問(wèn)全身情況
E.詢問(wèn)病史
矯治前必須有記錄患者牙情況的模型,稱之為()
A.記存模型
B.石膏模型
C.上頜模型
D.初模型
E.終模型
A.牙列擁擠Ⅱ度
B.Ⅱ度深覆
C.Ⅰ度深覆蓋
D.Ⅱ度開(kāi)
E.Ⅲ度開(kāi)
A.3~5mm
B.5~8mm
C.8mm以上
D.1~2mm
E.0~1mm
上前牙冠覆蓋下前牙冠超過(guò)1/3者稱為深覆,其分為三度,Ⅰ度深覆為()
A.覆蓋為3~5mm
B.上前牙冠覆蓋下前牙超過(guò)冠1/3而不足1/2者
C.上前牙冠覆蓋下前牙超過(guò)冠1/2而不足2/3者
D.上前牙冠覆蓋下前牙超過(guò)冠2/3者
E.以上都不是
最新試題
在矯治過(guò)程中,要配合何種措施增加磨牙支抗()
如果用Begg矯治器治療,頜間牽引的力應(yīng)是()
如果采用鄰面去釉的方法,那么每個(gè)牙去除釉質(zhì)的厚度最多是()
如果上唇系帶附麗正常,上中切牙間無(wú)多生牙該患者應(yīng)()
最應(yīng)采用的矯治器為()
正確的診斷記錄是()
正確的診斷是()
如果用Begg矯治器治療,為了打開(kāi)咬合應(yīng)()
何時(shí)進(jìn)行方絲弓矯正()
反解除后,雙側(cè)墊每次應(yīng)磨除()