A.不封閉“○”形磁痕
B.封閉“○”形磁痕
C.不完整“+”字形磁痕
D.“+”字溝槽不清晰
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A.最小測(cè)量值
B.最大測(cè)量值
C.量程倍數(shù)
D.修正系數(shù)
A.最小測(cè)量值
B.最大測(cè)量值
C.量程倍數(shù)
D.修正系數(shù)
A.皂化液
B.防銹劑
C.分散劑
D.消泡劑
A.工件的尺寸和重量
B.工件的數(shù)量和品種
C.探傷的要求
D.以上全部
A.工件的重量
B.工件的數(shù)量
C.工件的材料
D.工件的尺寸
A.相關(guān)
B.有明顯色差
C.無(wú)關(guān)
D.無(wú)明顯色差
A.縱向的表面和近表面缺陷
B.橫向的表面和近表面缺陷
C.斜向的表面和近表面缺陷
D.以上都是
A.高含量的紅色氧化鐵;
B.高頑磁性和低磁導(dǎo)率;
C.低頑磁性和低磁導(dǎo)率;
D.高磁導(dǎo)率和低矯頑力。
A.由于缺陷的漏磁場(chǎng)
B.由于截面突變等形狀變化處
C.V由于材料組織變化處
D.以上都是
A.有小裂紋
B.無(wú)小裂紋
C.無(wú)大裂紋
D.無(wú)裂紋
最新試題
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān),觀片燈亮度改變,最佳黑度值也將改變。
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()
一般認(rèn)為表面波探測(cè)的有效深度約為()
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是()
超聲波探頭上標(biāo)稱的頻率是()
原子是元素的具體存在,是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。
底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是()
對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷,一般采用()檢測(cè)。
在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)(r、R為簡(jiǎn)體的內(nèi)、外徑),斜探頭(β為折射角)的臨界角應(yīng)滿足()
不同材料的相對(duì)吸收系數(shù)()