A、透視光柵
B、平面光柵
C、凹面光柵
D、階梯光柵
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、檢測系統(tǒng)
B、數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)
C、輸入輸出系統(tǒng)
A、折射
B、反射
C、衍射
D、透射
A、光電直讀光譜儀
B、X射線熒光光譜儀
C、紅外碳硫測定儀
A、機(jī)刻光柵和全息光柵
B、平面光柵
C、凹面光柵
D、階梯光柵
A、砷
B、鉛
C、錫
A、0.005
B、0.01
C、0.05
A、3mm~4mm
B、2mm~5mm
C、3mm~6mm
A、SiC棒電阻爐
B、脈沖爐
C、高頻感應(yīng)加熱爐
D、微波爐
A、1100~1350℃
B、1800~2200℃
C、2000~3000℃
D、800度
A、硅膠
B、堿石灰
C、高氯酸鎂
D、濃硫酸
最新試題
直讀光譜分析鐵水試樣時(shí),鐵水試樣必須白口化。
ICP-AES光源分為四個(gè)區(qū)域,即()。
空心陰極燈的安裝,可以不考慮燈腳的位置,裝上即可。
原子熒光光譜法制作工作曲線時(shí),相關(guān)系數(shù)應(yīng)至少達(dá)到()。
ICP所用的氣動(dòng)霧化器有三種基本類型,它們分別是()。
原子吸收光譜儀,需要調(diào)整空心陰極燈燈電流時(shí),操作人員設(shè)置燈電流越大越好。
ICP-AES方法與ICP-MS相比具有的缺點(diǎn)是()。
管式爐紅外線吸收法測定煤中硫含量,根據(jù)朗伯-比爾定律即可求出煤樣中的硫含量。
氧氮分析儀測氮時(shí),是通過紅外池檢測試樣熔融后釋放出的氮?dú)饬縼頇z測的。
X射線熒光光譜分析中,分光晶體對(duì)溫度的變化比較敏感,一般要求晶體室溫度變化在()度內(nèi)。