A、HVPS→電子裝置電源→水泵電源→真空泵電源→主電源→計算機;
B、主電源→電子裝置電源→水泵電源→真空泵電源→HVPS→計算機;
C、計算機→HVPS→電子裝置電源→水泵電源→真空泵電源→主電源;
D、HVPS→主電源→水泵電源→電子裝置電源→真空泵電源→計算機;
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A、Read instrumentstatus
B、Status Reporter
C、Intrgrated Profile
D、Reset Instrument
A、Fe273.04nm
B、N149.21nm
C、Fe187.63nm
D、無
A、Fe273.07nm
B、Mn293.31nm
C、Fe187.63nm
D、無
A、石英
B、氟化鈣
C、氟化鎂
D、普通玻璃
A、能量使氣態(tài)原子外層電子產(chǎn)生躍遷
B、基態(tài)原子對共振線的吸收
C、激發(fā)態(tài)原子產(chǎn)生的輻射
A、陰極涂層
B、陽極的涂層物
C、窗口材料
D、光陰極的涂層物和窗口材料
A、-700V
B、-500V
C、-1200V
D、-900V
A、灰色
B、黑色
C、蘭色
D、白色
A、入射狹縫
B、衰減器
C、出射狹縫
D、濾光片
A、二次水
B、丙酮
C、汽油
最新試題
氧氮分析儀同碳硫分析儀一樣,都是采用加熱方式來分解試樣,所以也使用氧氣作載氣。
電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀包括()。
玻璃熔融-X熒光光譜法,采用的熔融法存在缺點是()。
管式爐紅外線吸收法測定煤中硫含量,根據(jù)朗伯-比爾定律即可求出煤樣中的硫含量。
紅外吸收法分析碳和硫時,可以用同一個紅外池來檢測。
ICP光譜干擾包括()。
脈沖加熱熔融熱導法測定鋼鐵中氫含量,分析前應用有證標準物質(zhì)進行檢查和校準儀器,所用實物標準的氫含量應略大于被分析試樣的含氫量。
紅外吸收碳硫儀中有高、低量程的紅外池,高量程的池體短,相應紅外光程短。
在高頻感應紅外碳硫分析儀中,可以作為氧化催化劑的試劑有()。
ICP-AES光源分為四個區(qū)域,即()。