A.光譜干擾
B.基體干擾
C.背景干擾
D.電離干擾
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A.電離干擾
B.物理干擾
C.化學(xué)干擾
D.光譜干擾
A.標(biāo)準(zhǔn)曲線法
B.標(biāo)準(zhǔn)加入法
C.內(nèi)標(biāo)法
D.直接比較法
A.干擾較少
B.易達(dá)到較高的精密度
C.檢出限較低
D.選擇性較強(qiáng)
A.靈敏度高
B.重現(xiàn)性好
C.分析速度快
D.背景吸收小
A.靈敏度高且重現(xiàn)性好
B.基體效應(yīng)大但重現(xiàn)性好
C.樣品量大但檢出限低
D.原子化效率高,因而絕對(duì)檢出限低
A.鎂
B.鍶
C.H3PO4
D.H2SO4
A.火焰中產(chǎn)生的分子吸收及固體微粒的光散射
B.共存干擾元素發(fā)射的譜線
C.火焰中待測(cè)元素產(chǎn)生的自吸現(xiàn)象
D.基體元素產(chǎn)生的吸收
A.化學(xué)干擾
B.物理干擾
C.電離干擾
D.背景干擾
A.減小背景
B.作釋放劑
C.作消電離劑
D.提高火焰溫度
A.釋放劑
B.保護(hù)劑
C.標(biāo)準(zhǔn)加入法
D.扣除背景
最新試題
選用ICP-AES儀器,同時(shí)可以進(jìn)行()。
原子熒光光譜法制作工作曲線時(shí),相關(guān)系數(shù)應(yīng)至少達(dá)到()。
判定原子吸收光譜測(cè)量元素準(zhǔn)確度,必須根據(jù)與分析元素結(jié)果相接近的標(biāo)準(zhǔn)樣品測(cè)定值。
X射線熒光光譜分析中,分光晶體對(duì)溫度的變化比較敏感,一般要求晶體室溫度變化在()度內(nèi)。
使用CS600測(cè)定純鐵中超低碳硫含量,控制分析空白是關(guān)鍵。
氧氮分析儀測(cè)氮時(shí),是通過紅外池檢測(cè)試樣熔融后釋放出的氮?dú)饬縼頇z測(cè)的。
直讀光譜分析鐵水試樣時(shí),鐵水試樣必須白口化。
ICP中等離子體環(huán)狀結(jié)構(gòu)形成的原因是()。
LZ50中氧氮含量的測(cè)定,分析儀器需要配備外循環(huán)冷卻水器或自來水源。
脈沖加熱熔融熱導(dǎo)法測(cè)定鋼鐵中氫含量,分析前應(yīng)用有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行檢查和校準(zhǔn)儀器,所用實(shí)物標(biāo)準(zhǔn)的氫含量應(yīng)略大于被分析試樣的含氫量。