A.~3030Cm~1600Cm~1500Cm
B.~3600Cm~3300Cm~1150Cm
C.~3600Cm~2960Cm~1710Cm
D.~3400Cm~2960Cm~1710Cm
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A.質(zhì)荷比
B.波數(shù)
C.偶合常數(shù)
D.保留值
A、R帶
B、E帶
C、B帶
D、K帶
A、CH3-CH2-CH2-CH3
B、CH3-CH2-CH2-OH
C、CH2=CH2
D、CH3-CH=CH-CH=CH-CH3
A.試樣吸光度與參比吸光度之差
B.試樣在兩波長(zhǎng)處的吸光度之差
C.試樣在兩波長(zhǎng)處的吸光度之和
D.試樣吸光度與參比吸光度之和
A、光源的種類
B、檢測(cè)器的個(gè)數(shù)
C、吸收池的個(gè)數(shù)
D、使用單色器的個(gè)數(shù)
A、光電管
B、檢流計(jì)
C、光電倍增管
D、毫伏計(jì)
A.CH2=CHCH2CH=CHNH2
B.CH3CH=CHCH=CHNH2
C.CH3CH2CH2CH2CH2NH2
A.原子核外層電子能級(jí)間的躍遷
B.分子的振動(dòng)、轉(zhuǎn)動(dòng)能級(jí)的躍遷
C.分子的電子結(jié)構(gòu)
D.原子的電子結(jié)構(gòu)
A.試樣與參比吸收之差
B.試樣與參比吸收之和
C.試樣在1和2處吸收之差
D.試樣在1和2處吸收之和
A、精細(xì)結(jié)構(gòu)消失
B、精細(xì)結(jié)構(gòu)更明顯
C、位移
D、分裂
最新試題
使用CS600測(cè)定純鐵中超低碳硫含量,控制分析空白是關(guān)鍵。
原子熒光光譜法制作工作曲線時(shí),相關(guān)系數(shù)應(yīng)至少達(dá)到()。
判定原子吸收光譜測(cè)量元素準(zhǔn)確度,必須根據(jù)與分析元素結(jié)果相接近的標(biāo)準(zhǔn)樣品測(cè)定值。
X射線熒光光譜分析中,分光晶體對(duì)溫度的變化比較敏感,一般要求晶體室溫度變化在()度內(nèi)。
玻璃熔融-X熒光光譜法,目前大量應(yīng)用于鐵合金中主次元素的測(cè)定,含量范圍廣,其具有的特點(diǎn)是()。
X射線熒光光譜玻璃熔片法采用的鉑金坩堝Pt與Au的比例一般是()。
選用ICP-AES儀器,同時(shí)可以進(jìn)行()。
在高頻感應(yīng)紅外碳硫分析儀中,可以作為氧化催化劑的試劑有()。
紅外吸收法分析碳和硫時(shí),可以用同一個(gè)紅外池來檢測(cè)。
原子吸收光譜儀,需要調(diào)整空心陰極燈燈電流時(shí),操作人員設(shè)置燈電流越大越好。