A、3200和3200
B、3200和5900
C、5900和5900
D、以上都不對(duì)
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、特性
B、形狀
C、方向
D、以上都不對(duì)
A、橫向和縱向兩種振動(dòng)的合成
B、直線振動(dòng)
C、斜振動(dòng)
D、S振動(dòng)
A、按質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向分類
B、按波的形狀分類
C、按振動(dòng)所持續(xù)的時(shí)間分類
D、以上都對(duì)
A、波高
B、能量
C、持續(xù)時(shí)間
D、波幅高度
A、連續(xù)波
B、脈沖波
C、近場(chǎng)波
D、以上都不對(duì)
A、能量
B、波幅高度
C、持續(xù)時(shí)間
D、以上都對(duì)
A、連續(xù)波
B、脈沖波
C、近場(chǎng)波
D、以上都不對(duì)
A、振動(dòng)方程
B、反射定理
C、折射定理
D、壓電方程
A、X=Acos(ωt-φ)
B、X=Acos(ωt+φ)
C、X=Asin(ωt+φ)
D、X=Asin(ωt-φ)
最新試題
渦流檢測(cè)線圈是在被檢測(cè)導(dǎo)電材料或零件表面及近表面激勵(lì)產(chǎn)生()
渦流檢測(cè)輔助裝置的試樣傳動(dòng)裝置在()材生產(chǎn)線上的應(yīng)用最為廣泛。
當(dāng)波束中心線與缺陷面()且回波最()時(shí),移動(dòng)探頭使波束中心(),回波高度當(dāng)隨之下降。
特性是指實(shí)體所特有的性質(zhì),它反映子實(shí)體滿足需要的()
對(duì)于圓盤形試件,常沿()在圓面上進(jìn)行掃查。
在聲束垂直試件表面時(shí),所獲得的()反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。
采用以()為橫坐標(biāo),以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實(shí)用AVG曲線。
用于測(cè)量黑光強(qiáng)度的現(xiàn)代黑光輻射照度計(jì),其探頭(傳感器)的光敏組件的前面有(),只適用于測(cè)量黑光。
直接射向缺陷的波就是()
磁性測(cè)厚技術(shù)包括機(jī)械式和()兩種測(cè)量方法。