A、如果設(shè)備在額定狀態(tài)下工件,其絕緣電阻可以低于1MΩ
B、使用濕法可不用防塵設(shè)備,而干法最好要有防塵設(shè)備
C、球罐探傷時(shí),允許把初級(jí)電源變壓器移到罐內(nèi)
D、以上都不對(duì)
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A、磁羅盤(pán)
B、場(chǎng)強(qiáng)計(jì)
C、高斯計(jì)
D、以上可以
A、放在線圈的軸線上
B、與線圈的軸線垂直放置
C、貼近線圈內(nèi)側(cè)平行于軸線
D、以上都對(duì)
A、直流電
B、單相全波整流電
C、交流電
D、三相全波整流電
A、濕法直流磁化
B、濕法交流磁化
C、干法直流磁化
D、干法交流磁化
A、連續(xù)法
B、濕法
C、剩磁法
D、干法
A、試件溫度高時(shí),干法比濕法好
B、干法是以空氣為媒質(zhì)施加磁粉的方法
C、在檢出近表面內(nèi)部缺陷的場(chǎng)合,干法比濕法更適用
D、以上都對(duì)
A、加工
B、探傷
C、退磁
D、通電
A、常數(shù)
B、非線性函數(shù)
C、代數(shù)和
D、矢量和
A、難于磁化
B、易于磁化
C、磁通密度大
D、矯頑力大
A、應(yīng)檢查零件,看兩次操作之間是否需要退磁
B、第二個(gè)操作前不需要任何措施
C、這種方法不是一種有效的方法
D、沒(méi)有必要在兩個(gè)方向上磁化焊縫
最新試題
掃查方式一般視試件的()而定。
無(wú)損探傷檢測(cè)采用的黑光燈和濾光片的作用是使其輻射波長(zhǎng)范圍為()mm,峰值波長(zhǎng)為365mm。
缺陷檢測(cè)即通常所說(shuō)的渦流探傷主要影響因素包括()、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。
掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束(),保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。
對(duì)于圓盤(pán)形試件,常沿()在圓面上進(jìn)行掃查。
對(duì)于長(zhǎng)條形試件,則常沿()作平行縱軸的直線式掃查。
波束截面中心聲能(),隨著與中心的距離的增大,聲能()
渦流檢測(cè)儀的阻抗幅值型儀器在顯示終端僅給出()的相關(guān)信息。
各類渦流檢測(cè)儀器的工作原理和()是相同的。
直接射向缺陷的波就是()