判斷題AVG曲線圖中,以距離作為橫坐標(biāo),以缺陷當(dāng)量尺寸作為縱坐標(biāo)。
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當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時(shí),如果聲束軸線移到缺陷邊緣,缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時(shí)波高的()
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特性是指實(shí)體所特有的性質(zhì),它反映子實(shí)體滿足需要的()
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當(dāng)波束中心線與缺陷面()且回波最()時(shí),移動(dòng)探頭使波束中心(),回波高度當(dāng)隨之下降。
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磁性測(cè)厚技術(shù)包括機(jī)械式和()兩種測(cè)量方法。
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