A.3
B.4
C.5
D.6
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A.λ≥2d
B.λ≤2d
C.λ≥d
D.λ≤d
A.試樣分析含量超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)曲線上限
B.二次冷卻水阻抗、溫度、壓力超標(biāo)
C.送樣器離開(kāi)試樣室而光閘未合上
A.作好標(biāo)準(zhǔn)化操作
B.加長(zhǎng)震動(dòng)磨震動(dòng)時(shí)間
C.用砂帶對(duì)樣品進(jìn)行細(xì)磨
D.用砂布使樣品干燥
A.工作曲線法
B.標(biāo)準(zhǔn)加入法
C.內(nèi)標(biāo)法
D.基體校正
A.分析時(shí)間延長(zhǎng),測(cè)定結(jié)果偏高
B.分析時(shí)間延長(zhǎng),測(cè)定結(jié)果偏低
C.分析時(shí)間延短,測(cè)定結(jié)果偏高
D.分析時(shí)間延短,測(cè)定結(jié)果偏低
A.脫水劑
B.釋放劑
C.緩沖劑
D.保護(hù)劑
A.由于第三元素存在的變化,造成試樣分析間蒸氣成份和溫度的變化。
B.由于第三元素的存在,使分析譜線減弱造成干擾。
C.由于第三元素的存在,使分析譜線被吸收造成干擾。
D.由于第三元素的存在,使分析譜線被增強(qiáng)造成干擾。
A.做暗電流實(shí)驗(yàn),觀察其是否平穩(wěn)
B.做描跡,觀察測(cè)光強(qiáng)度的峰值好壞
C.做燈實(shí)驗(yàn),觀察相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差是否小于0.1%
D.操作人員根據(jù)經(jīng)驗(yàn)判斷
A.基體干擾,光學(xué)元件老化造成飄移
B.由于飄移校正樣發(fā)生了偏析
C.室溫的變化、震動(dòng)的影響使鐵譜線的相對(duì)位置產(chǎn)生了微小的移動(dòng)
D.操作人員不同
A.精密度
B.靈敏度
C.準(zhǔn)確度
D.重復(fù)性
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