A.探頭聲束是否有偏離
B.探頭是否有雙峰
C.信號(hào)幅度最小時(shí)缺陷不在探頭正下方
D.信號(hào)幅度最小時(shí)缺陷正好在探頭正下方
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A.表面活性劑
B.互溶劑
C.增白劑
D.穩(wěn)定劑
A.噴丸
B.陽極化
C.噴漆
D.研磨
A.探測缺陷尺寸
B.探測缺陷形狀
C.探測缺陷位置
D.發(fā)現(xiàn)缺陷大小
A.液氧相溶
B.低硫
C.低氯
D.低氟
A.H-Φ 關(guān)系
B.M-H 關(guān)系
C.B-H 關(guān)系
D.B-M 關(guān)系
A.化學(xué)成分
B.人工反射體大小
C.熱處理
D.幾何形狀
A.直探頭
B.雙晶直探頭
C.斜探頭
D.雙晶斜探頭
A.型號(hào)
B.擺放位置
C.絲號(hào)
D.規(guī)格
A.銀的絡(luò)合物濃度增大
B.銀的絡(luò)合物濃度減小
C.鹵化物濃度增大
D.鹵化物濃度減小
A.表面有褶紋不得再用
B.人工缺陷的面朝向
C.使用前用溶劑清洗防銹油
D.使用后可用清水清洗
最新試題
滲透檢測焊縫，對(duì)焊縫及熱影響區(qū)表面進(jìn)行清理，可以采用（）。
底片靈敏度的檢查內(nèi)容包括像質(zhì)計(jì)（）要達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的要求。
對(duì)底片進(jìn)行評(píng)定時(shí)，首先對(duì)底片進(jìn)行質(zhì)量檢查，不滿足要求的底片不予評(píng)定，質(zhì)量檢查項(xiàng)目有（）。
用半價(jià)層描述的某種能量的射線是指（）。
下列關(guān)于照射場的大小對(duì)散射比的影像的說法，錯(cuò)誤的有（）。
壓電晶體產(chǎn)生的壓電效應(yīng)主要有（）。
按照受檢材料的相容性，可將滲透劑分為（）滲透劑。
滲透檢測通常在（）前進(jìn)行，表面處理后局部加工時(shí)需再次檢測。
目前主要用的是數(shù)顯式黑度計(jì)，主要作用有（）。
影響定影的因素主要有（）。