A.CPU
B.ROM
C.RAM
D.EPROM
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A.CPU
B.ROM
C.RAM
D.EPROM
A.運(yùn)算器、控制器和內(nèi)部寄存器
B.存貯器RAM、ROM和EPROM
C.A/D、D/A轉(zhuǎn)換及I/O接口電路
D.系統(tǒng)程序和應(yīng)用程序
A.匯編語(yǔ)言
B.高級(jí)語(yǔ)言
C.表格、步驟記入方式
D.以上三種
A.可以實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)模擬調(diào)節(jié)器難以實(shí)現(xiàn)的多種高級(jí)控制
B.通過(guò)較易掌握的編程,構(gòu)成所需的控制功能,既方便又靈活
C.有自診斷和通訊功能
D.以上都正確
A.具有DDC控制系統(tǒng)的基本特點(diǎn)
B.具有與模擬儀表相同的外觀及面板操作方法
C.具有計(jì)算機(jī)所具備的基本功能
D.編程方法和所用語(yǔ)言與計(jì)算機(jī)相同
A.溫度
B.電壓
C.電流
D.電阻
A.加到被控對(duì)象的擾動(dòng)頻率越高,采樣頻率應(yīng)愈高,即采樣周期愈短
B.當(dāng)對(duì)象的純滯后T0較大時(shí),采樣周期也應(yīng)相應(yīng)增長(zhǎng)
C.若采用反應(yīng)較慢的氣動(dòng)執(zhí)行器,采樣周期應(yīng)比較短
D.采樣的信號(hào)個(gè)數(shù)越多,采樣周期應(yīng)越長(zhǎng)
A.周期
B.采樣
C.間隔時(shí)間
D.離散
A.恢復(fù)觸發(fā)前的狀態(tài)
B.保持現(xiàn)狀態(tài)
C.不能確定
D.不穩(wěn)定
A.模擬
B.數(shù)字
C.離散量
D.開(kāi)關(guān)
最新試題
若玻璃管液位計(jì)玻璃管選得太小,其測(cè)量值將比實(shí)際液位()。
被測(cè)體表面越小,電渦流探頭的靈敏度()。
浮球液位計(jì)所測(cè)液位越高,浮球所受浮力()。
防爆標(biāo)志為“eⅡb”的儀表可用于下列哪種場(chǎng)合。()
在所有與機(jī)械狀態(tài)有關(guān)的故障征兆中,機(jī)械()測(cè)量是最權(quán)威性的。
某化工廠一測(cè)量水的流量計(jì)原來(lái)是差壓式孔板流量計(jì)(信號(hào)送DCS)量程偏小很多,要改為電磁流量計(jì),請(qǐng)問(wèn)系統(tǒng)要作哪些更改?
隔離形式有隔離膜片隔離和()兩種方式。
說(shuō)明積分飽和現(xiàn)象的產(chǎn)生過(guò)程?
下列轉(zhuǎn)軸組件的典型故障中,其振幅隨轉(zhuǎn)速增減發(fā)生跳躍的是()。
由于不平衡所引起的振動(dòng),其最重要的特點(diǎn)是發(fā)生與旋轉(zhuǎn)同步的()振動(dòng)。