A.減少對(duì)其他科室的輻射影響
B.降低對(duì)周?chē)h(huán)境的輻射影響
C.減少候診人員的輻射傷害
D.減少工作人員的輻射傷害
E.減少受檢者的輻射傷害
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A.控制裝置
B.高壓發(fā)生裝置
C.X線管
D.攝影床
E.X線電視系統(tǒng)
A.陽(yáng)極靶面傾斜角度
B.燈絲尺寸
C.工作溫度
D.X線管外形尺寸
E.冷卻和絕緣方式
A.主機(jī)功率在50~80kW
B.最高千伏150kV
C.12~14bit采集
D.連續(xù)點(diǎn)片采集速度5~15張/秒
E.多片庫(kù)供片系統(tǒng)
A.高壓嘴
B.燈絲
C.偏轉(zhuǎn)裝置
D.熒光屏
E.電子槍
A.重復(fù)時(shí)間
B.平均采集次數(shù)
C.頻率編碼步數(shù)
D.相位編碼步數(shù)
E.矩陣大小
A.層面選擇—相位編碼—頻率編碼
B.層面選擇—頻率編碼—相位編碼
C.相位編碼—頻率編碼—層面選擇
D.頻率編碼—相位編碼—層面選擇
E.相位編碼—層面選擇—頻率編碼
A.使磁化矢量由最大值衰減到37%的水平
B.使磁化矢量倒向負(fù)Z軸
C.使磁化矢量倒向XY平面內(nèi)進(jìn)動(dòng)
D.使失相的質(zhì)子重聚
E.使磁化矢量由最小值上升到63%的水平
A.激光發(fā)生器、調(diào)節(jié)器、發(fā)散透鏡、多角光鏡、聚集透鏡、高精度電機(jī)
B.滾筒、高精度電機(jī)、調(diào)節(jié)器、發(fā)散透鏡、多角光鏡、聚集透鏡
C.控制板、激光發(fā)生器、調(diào)節(jié)器、多角光鏡、聚焦透鏡
D.干燥系統(tǒng)、聚集透鏡、高精度電機(jī)、激光發(fā)生器、滾筒
E.調(diào)節(jié)器、發(fā)散透鏡、控制板、聚集透鏡、鋁基板
A.鎢酸鎘晶體探測(cè)器
B.氣體探測(cè)器
C.電離室探測(cè)器
D.稀土陶瓷探測(cè)器
E.比例計(jì)數(shù)型探測(cè)器
A.彩色/單色濾光片、熒光粉
B.像素?cái)?shù)、液晶分子
C.JND、偏光板
D.偏光板、彩色/單色濾光片
E.冷陰極熒光管、液晶分子
最新試題
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