A.使受測(cè)試件發(fā)射電子
B.射線受散射影響底片品質(zhì)
C.增加安全顧慮
D.以上都是
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.hv小于εj
B.hv大于εj
C.hv遠(yuǎn)大于εj
D.hv大于1.02Mev
A.能量為0.2MeV的單能射線
B.能量高于0.2MeV的所有射線成分
C.最大能量為0.2MeV的白色X射線束
D.平均能量為0.2MeV的X射線
A.10
B.20
C.30
D.40
A.對(duì)比度
B.顆粒度
C.不清晰度
D.以上都是
A.表面波法
B.縱波法
C.橫波法
D.聚焦法
A.缺陷波
B.底波
C.始波
D.遲到波
E.三角反射波
A.sinβ≤r/R
B.sinβ≥r/R
C.tanβ≤r/R
D.tanβ≥r/R
A.與探頭晶片直徑成正比
B.與頻帶寬度成正比
C.與脈沖重復(fù)頻率成正比
D.以上都對(duì)
最新試題
物質(zhì)對(duì)輻射的吸收是隨什么而變()
在工作中超聲波檢測(cè)儀屏幕上可能會(huì)出現(xiàn)()等信號(hào)波,需要仔細(xì)判別。
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線,穿過(guò)一個(gè)厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí),部分被物體吸收,部分則穿透該物體,還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射,此散射為()
底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是()
超聲波斜探頭的K值等于()的正切值。
對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷,一般采用()檢測(cè)。
超聲波探頭上標(biāo)稱的頻率是()
不同材料的相對(duì)吸收系數(shù)()
在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)(r、R為簡(jiǎn)體的內(nèi)、外徑),斜探頭(β為折射角)的臨界角應(yīng)滿足()