A.提高主因?qū)Ρ榷?br />
B.減小固有不清晰度
C.減小底片顆粒度
D.減小幾何不清晰度
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A.射線能量
B.底片 黑度
C.膠片類型
D.顯影條件
A.鋼板用試塊:CBⅠ、CBⅡ
B.鍛件用試塊:CSⅠ、CSⅡ、CSⅢ
C.焊接接頭用試塊:CSK-ⅠA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA、CSK-ⅣA
D.堆焊層用試塊:T1、T2、T3
A.缺陷不垂直于檢測(cè)表面
B.使用聚焦探頭
C.探頭在有曲率表面掃查
D.聲程距離較大
A.使焊件上的熱量盡量均勻可減小焊接變形和焊接應(yīng)力
B.減少對(duì)焊縫自由收縮的限制可減小焊接變形和焊接應(yīng)力
C.焊接線能量越大,產(chǎn)生的焊接變形或焊接應(yīng)力亦增大
D.采用焊前預(yù)熱和合理的裝配焊接順序可減小焊接變形和焊接應(yīng)力
A.焊接電流太大
B. 焊條與工件角度不對(duì)
C.運(yùn)條速度太快
D.直流焊時(shí)發(fā)生磁偏吹
A.生產(chǎn)效率高
B.適用于大厚度件焊接
C.一般不易出現(xiàn)淬硬組織
D.適于全位置焊接
A.使用更高類別的膠片
B.雙膠片技術(shù)
C.適當(dāng)提高管電壓
D.窗口加濾波板
A.強(qiáng)度
B.剛度
C.耐蝕性
D.焊接性
A.新標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定著色滲透檢測(cè)用的標(biāo)準(zhǔn)試塊不得用于熒光滲透檢測(cè),反之亦然;老標(biāo)準(zhǔn)無(wú)此規(guī)定
B.新標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定用鍍鉻試塊鑒定滲透檢測(cè)靈敏度等級(jí),老標(biāo)準(zhǔn)無(wú)此規(guī)定
C.新標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了三種顯示—相關(guān)顯示、非相關(guān)顯示和虛假顯示的處理方法,老標(biāo)準(zhǔn)無(wú)此內(nèi)容
D.新標(biāo)準(zhǔn)適當(dāng)提高了被檢工件機(jī)加工表面的粗糙度要求,而老標(biāo)準(zhǔn)要求低些
A.采用高強(qiáng)度鋼或?qū)α鸭y敏感的材料制造的在用承壓設(shè)備,其內(nèi)壁宜作熒光滲透檢測(cè)
B.對(duì)長(zhǎng)期工作在腐蝕介質(zhì)環(huán)境下,有可能發(fā)生應(yīng)力腐蝕的在用承壓設(shè)備,其內(nèi)壁宜作熒光滲透檢測(cè)
C.對(duì)在用承壓設(shè)備作熒光滲透檢測(cè)時(shí),操作人員可戴光致變色眼鏡,以保護(hù)眼睛不被黑光照射
D.對(duì)在用承壓設(shè)備作熒光滲透檢測(cè)校驗(yàn)用的對(duì)比試塊或靈敏度試塊,不得與作著色滲透檢測(cè)校驗(yàn)用的對(duì)比試塊或靈敏度試塊互換使用
最新試題
在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)(r、R為簡(jiǎn)體的內(nèi)、外徑),斜探頭(β為折射角)的臨界角應(yīng)滿足()
以下耦合劑中,可用于粗糙表面檢測(cè)的是()
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()
當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí),部分被物體吸收,部分則穿透該物體,還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射,此散射為()
超聲波探頭上標(biāo)稱的頻率是()
發(fā)生康普頓散射的條件是()
影響較大的散射線通常來(lái)自()
調(diào)節(jié)掃描速度時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
若評(píng)片燈亮度增為原來(lái)的兩倍,則底片透光度(It/I0)變?yōu)樵瓉?lái)的()