A.50萬(wàn)輛
B.60萬(wàn)輛
C.70萬(wàn)輛
D.90萬(wàn)輛
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A.當(dāng)量法
B.缺陷回波高度法
C.底面回波高度法
D.延伸度定量評(píng)定法
A.是所加電脈沖持續(xù)時(shí)間的函數(shù)
B.是儀器接收器放大特性的函數(shù)
C.是晶片厚度的函數(shù)
D.以上都不對(duì)
A.大于入射角
B.小于入射角
C.等于入射角
D.在臨界角之外
A.入射縱波軸線(xiàn)與通過(guò)入射點(diǎn)法線(xiàn)的夾角
B.入射橫波軸線(xiàn)與通過(guò)入射點(diǎn)法線(xiàn)的夾角
C.傾斜晶片與探測(cè)面的夾角
D.入射波軸線(xiàn)與界面的夾角
A.0.2mm
B.0.4mm
C.0.8mm
D.1.6mm
A.水溫升高,聲速變大
B.水溫升高,聲速變小
C.水溫升高,聲速不變
D.呈波浪型變化
A.波束邊沿最大
B.波束中心最大
C.波束中心與邊沿一樣大
D.與波束寬度成反比
A.圓柱形曲面
B.球形曲面
C.正方形
D.棱形
A.介質(zhì)的密度與彈性
B.質(zhì)點(diǎn)在介質(zhì)中振動(dòng)的方式
C.a和b都是
D.聲阻抗
A.界面聲阻抗
B.楊氏模量
C.泊松比
D.折射率
最新試題
當(dāng)射線(xiàn)穿透任何一物體時(shí),部分被物體吸收,部分則穿透該物體,還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射,此散射為()
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線(xiàn),穿過(guò)一個(gè)厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()
通常所謂20KV的X射線(xiàn)是指()
以下耦合劑中,可用于粗糙表面檢測(cè)的是()
原子是元素的具體存在,是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。
底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是()
以下試塊中,能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是()
影響較大的散射線(xiàn)通常來(lái)自()
最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線(xiàn)能量為()