A.儀器操作參數(shù)
B.進(jìn)樣方法
C.元素性質(zhì)
D.酸度
E.操作水平
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A.連續(xù)背景輻射
B.譜線重疊干擾
C.揮發(fā)和原子化干擾
D.激發(fā)和電離干擾
E.化學(xué)干擾
A.有較強(qiáng)的炭譜
B.多元素檢出能力不如常規(guī)Ar-ICP
C.費(fèi)用比ICP-N2更低
D.干擾小
E.背景低
A.光譜干擾比ICP-MS大
B.可在大氣壓下連續(xù)工作
C.不比ICP-MS具有更好的檢出線
D.可測(cè)痕量元素
E.測(cè)量元素種類多
A.同心霧化器
B.正交型霧化器
C.高鹽量霧化器
D.石英霧化器
E.金屬霧化器
A.冷卻氣
B.輔助氣
C.霧化氣
D.壓縮空氣
E.助燃?xì)?/p>
A.定量分析
B.定性分析
C.半定量分析
D.固體分析
E.氣體分析
A.原子譜線
B.離子譜線
C.分子譜線
D.電子譜線
E.化合物譜線
A.鹽酸
B.硝酸
C.稀王水
D.王水
E.氫氟酸
A.分光系統(tǒng)
B.檢測(cè)系統(tǒng)
C.數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)
D.計(jì)算機(jī)
E.進(jìn)樣系統(tǒng)
A.預(yù)熱區(qū)
B.初始輻射區(qū)
C.正常分析區(qū)
D.尾焰區(qū)
E.外焰區(qū)
最新試題
選用ICP-AES儀器,同時(shí)可以進(jìn)行()。
鋼鐵中氫含量采用脈沖加熱熔融熱導(dǎo)法測(cè)定時(shí),根據(jù)熱導(dǎo)池輸出電流值與氫的濃度關(guān)系,從校準(zhǔn)曲線上得到氫含量。
直讀光譜分析鐵水試樣時(shí),鐵水試樣必須白口化。
電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀包括()。
X射線熒光光譜分析中,分光晶體對(duì)溫度的變化比較敏感,一般要求晶體室溫度變化在()度內(nèi)。
ICP-AES方法與ICP-MS相比具有的缺點(diǎn)是()。
ICP-AES法測(cè)量分析試樣時(shí),所選擇的光譜分析線是()。
ICP中等離子體環(huán)狀結(jié)構(gòu)形成的原因是()。
脈沖加熱熔融熱導(dǎo)法測(cè)定鋼鐵中氫含量,分析前應(yīng)用有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行檢查和校準(zhǔn)儀器,所用實(shí)物標(biāo)準(zhǔn)的氫含量應(yīng)略大于被分析試樣的含氫量。
鋼鐵中以下元素能夠使用紅外線吸收法測(cè)量的是()。