A.CS-1-5
B.TCS-R試塊
C.CS-1試塊
D.CSK-1A
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A.20dB
B.24dB
C.26dB
D.28dB
A.20dB
B.30dB
C.35dB
D.40dB
A.CS-1試塊
B.CSK-1A試塊
C.TCS-R試塊
D.CS-1-5試塊
A.l0~20℃
B.20~30℃
C.l0~30℃
D.10~40℃
A.2年
B.4年
C.5年
D.6年
A.一次全部
B.二次全部
C.三次全部
D.四次全部
A.第2次回波
B.第3次回波
C.第4次回波
D.第5次回波
A.20
B.30
C.40
D.50
A.3-4
B.4-5
C.5-6
D.4-6
A.0.02
B.0.04
C.0.05
D.0.06
最新試題
最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為()
超聲波探頭上標(biāo)稱(chēng)的頻率是()
當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí),部分被物體吸收,部分則穿透該物體,還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射,此散射為()
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān),觀片燈亮度改變,最佳黑度值也將改變。
以下試塊中,能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是()
在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)(r、R為簡(jiǎn)體的內(nèi)、外徑),斜探頭(β為折射角)的臨界角應(yīng)滿(mǎn)足()
最容易發(fā)生康普頓效應(yīng)的射線能量為()
使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是()
以下耦合劑中,可用于粗糙表面檢測(cè)的是()
射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識(shí)別性主要決定于()