A.相速度
B.頻速度
C.群速度
D.以上都不對(duì)
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A.相速度和頻速度
B.群速度和頻速度
C.相速度和群速度
D.以上都不對(duì)
A.板厚
B.頻率
C.聲速
D.板厚,頻率,聲速
A.降低
B.升高
C.不確定
D.先升高再降低
A.降低
B.升高
C.不確定
D.先升高再降低
A.平面波
B.球面波
C.柱面波
D.活塞波
A.平面波,球面波
B.球面波,平面波
C.平面波,柱面波
D.球面波,柱面波
A.具有足夠的浸潤(rùn)性,聲阻抗與被檢試件的差異盡可能小些
B.不腐蝕工件,對(duì)人無(wú)害,容易清除
C.來(lái)源方便,價(jià)格便宜
D.以上都是
A.車(chē)軸端面進(jìn)行穿透探傷檢查
B.鋼軌探傷中的0°探頭探傷檢查
C.軸頸根部或卸荷槽小角度探傷
D.以上都是
A.所受應(yīng)力形態(tài)
B.降低車(chē)軸的抗彎曲強(qiáng)度
C.加速疲勞
D.以上都是
A.1MHz探頭
B.5MHz探頭
C.15MHz探頭
D.25MHz探頭
最新試題
對(duì)軸類(lèi)鋼制鍛件,用2.5P14的直探頭,在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí),該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于()
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是()
使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是()
發(fā)生康普頓散射的條件是()
超聲波斜探頭的K值等于()的正切值。
二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝,以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述,哪一條是錯(cuò)誤的()
對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷,一般采用()檢測(cè)。
以下試塊中,能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是()
光電效應(yīng)發(fā)生的機(jī)率隨什么變化()
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()