A.交變應(yīng)力
B.彎曲應(yīng)力
C.壓應(yīng)力
D.扭曲應(yīng)力
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A.日常性能校驗(yàn)
B.季度性能檢查
C.一般性能檢查
D.特殊性能檢查
A.逆壓電
B.正壓電
C.壓電
D.壓差
A.逆壓電
B.正壓電
C.壓電
D.壓差
A.確定缺陷深度
B.評(píng)定表面缺陷
C.作為評(píng)定長(zhǎng)條形缺陷的標(biāo)準(zhǔn)
D.作為評(píng)定點(diǎn)狀缺陷的標(biāo)準(zhǔn)
A.減小
B.增大
C.不變
D.可增大或減小
A.晶粒結(jié)構(gòu)非常致密
B.晶粒結(jié)構(gòu)粗大
C.流線均勻
D.缺陷任意取向
A.3倍
B.12dB
C.24dB
D.以上三個(gè)答案都不對(duì)
A.散射和吸收
B.波束擴(kuò)散
C.介質(zhì)密度過大
D.缺陷類別
A.較小
B.較大
C.與之無關(guān)
D.以上說法均不對(duì)
A.縱波
B.橫波
C.表面波
D.板波
最新試題
射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識(shí)別性主要決定于()
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()
物質(zhì)對(duì)輻射的吸收是隨什么而變()
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān),觀片燈亮度改變,最佳黑度值也將改變。
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()
若評(píng)片燈亮度增為原來的兩倍,則底片透光度(It/I0)變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>
使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是()
以下耦合劑中,可用于粗糙表面檢測(cè)的是()
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線,穿過一個(gè)厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
下列對(duì)耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述,不正確的一項(xiàng)是()