A.26dB
B.46dB
C.56dB
D.66dB
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A.12dB~18dB
B.12dB~15dB
C.16dB~18dB
D.15dB~19dB
A.0.1mm
B.0.2mm
C.0.3mm
D.0.4mm
A.3°~5°
B.3°~6°
C.3°~7°
D.2°~5°
A.81mm
B.91mm
C.101mm
D.121mm
A.0.4
B.0.5
C.0.6
D.0.7
A.85mm處
B.91mm處
C.100mm處
D.200mm處
A.0.25mm
B.0.15mm
C.0.10mm
D.0.05mm
A.6dB
B.15dB
C.20dB
D.25dB
A.CSK-1A
B.TCS-R試塊
C.CS-1試塊
D.CS-1-5
A.20mm
B.25mm
C.91mm
D.100mm
最新試題
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()
以下試塊中,能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是()
使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是()
超聲波探頭上標(biāo)稱(chēng)的頻率是()
探頭的分辨力()
對(duì)于鉬靶X射線管,在管電壓低于()千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。
影響較大的散射線通常來(lái)自()
射線照片上一個(gè)細(xì)節(jié)的影像是否能被眼睛識(shí)別出來(lái),最主要的是決定于()
調(diào)節(jié)掃描速度時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()