A.直線軌跡
B.三角形軌跡
C.橢圓軌跡
D.以上都不對(duì)
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A.橫向和縱向兩種振動(dòng)的合成
B.橫向振動(dòng)
C.縱向振動(dòng)
D.A、B和C
A.橫波
B.瑞利波
C.蘭姆波
D.A、B和C
A、一個(gè)波長(zhǎng)
B、一個(gè)半波長(zhǎng)
C、兩個(gè)波長(zhǎng)
D、兩個(gè)半波長(zhǎng)
A、表面波
B、電磁波
C、橫波
D、縱波
A.縱波
B.橫波
C.表面波
D.板波
A、波動(dòng)的種類
B、波動(dòng)幅度
C、波動(dòng)的方向
D、以上都不對(duì)
A.縱波
B.橫波
C.表面波、板波
D.A、B和C
A.縱波
B.橫波
C.瑞利波
D.蘭姆波
A.1λ
B.(1/2)λ
C.(1/10)λ
D.(1/100)λ
A.脈沖波
B.電磁波
C.方波
D.爬波
最新試題
關(guān)于相似相溶經(jīng)驗(yàn)法則的說(shuō)法正確的有()。
磁場(chǎng)信號(hào)測(cè)量中可采用()方法。
對(duì)漏磁檢測(cè)原理描述正確的有()。
人的眼睛在強(qiáng)光下,()。
滲透檢測(cè)工藝對(duì)顯像操作的要求有()。
采用橫波斜探頭在圓柱曲面外圓進(jìn)行周向檢測(cè)時(shí),缺陷定位說(shuō)法正確的有()。
大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用()填補(bǔ)工件的較薄部分,使透照厚度差減小的方法。
用雙晶探頭檢測(cè)時(shí),為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度,檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭()。
與一次射線相比,散射線的()。
超聲波檢測(cè)發(fā)現(xiàn)缺陷,在不同的方向上檢測(cè),缺陷回波呈現(xiàn)此起比伏互相彼連的狀態(tài),判定為()。