A.小
B.大
C.無(wú)變化
D.以上都不對(duì)
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A.物質(zhì)粒子輻射
B.電磁輻射
C.微波輻射
D.電離輻射
A.非電離輻射
B.間接電離輻射
C.直接電離輻射
D.以上都不對(duì)
A.性質(zhì)
B.穿透能力
C.射線源
D.種類
A.穿透能力不同
B.強(qiáng)度不同
C.產(chǎn)生機(jī)理不同
D.A、B和C
A.光電效應(yīng)
B.康普頓效應(yīng)
C.湯姆遜效應(yīng)
D.電子對(duì)生成效應(yīng)
A.完全不吸收
B.部分被吸收
C.完全被吸收
D.以上都不是
A.τ=kρ
B.τ=z2λ2
C.τ=kρzλ
D.τ=kρz4λ3
A.光電效應(yīng)
B.康普頓效應(yīng)
C.電子對(duì)生成效應(yīng)
D.以上都對(duì)
A.5.3年
B.74天
C.127天
D.以上都不是
A.5.3年
B.3.3年
C.33年
D.75天
最新試題
Z 超聲波檢測(cè)鑄件時(shí)可作為缺陷記錄的是()。
與一次射線相比,散射線的()。
關(guān)于波束未擴(kuò)散區(qū),說(shuō)法正確的是()。
磁場(chǎng)信號(hào)測(cè)量中可采用()方法。
冷裂紋常見(jiàn)的有()。
鑄件熒光滲透檢測(cè)時(shí),()。
潤(rùn)濕是受檢表面附著的氣體被滲透液體所取代的現(xiàn)象,發(fā)生潤(rùn)濕時(shí)()。
關(guān)于相似相溶經(jīng)驗(yàn)法則的說(shuō)法正確的有()。
大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用()填補(bǔ)工件的較薄部分,使透照厚度差減小的方法。
顯影斑紋呈黑色條狀或?qū)拵?,在整張底片范圍出現(xiàn),其產(chǎn)生的原因是()。