A.波束不擴(kuò)散
B.不存在擴(kuò)散衰減
C.存在擴(kuò)散衰減
D.波束擴(kuò)散
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A.強(qiáng)磁場(chǎng)
B.弱磁場(chǎng)
C.電源波動(dòng)大
D.強(qiáng)烈振動(dòng)
A.單元件多點(diǎn)測(cè)量
B.多原件陣列多點(diǎn)測(cè)量
C.聚磁檢測(cè)技術(shù)
D.磁屏蔽技術(shù)
A.鐵銹
B.涂層
C.燃燒積炭
D.油脂
A.物理性能是各向異性
B.物理性能是各向同性
C.力學(xué)性能是各向同性
D.力學(xué)性能是各向異性
A.能量增大
B.能量減小
C.波長(zhǎng)變長(zhǎng)
D.波長(zhǎng)變短
A.化學(xué)結(jié)構(gòu)相似的物質(zhì)彼此容易相互溶解
B.極性相似的物質(zhì)彼此不容易相互溶解
C.化學(xué)結(jié)構(gòu)相似,分子種類不同的物質(zhì)不能相互溶解
D.極性物質(zhì)容易溶解于極性溶劑中
A.外觀檢查
B.無(wú)損探傷
C.力學(xué)性能
D.金相試驗(yàn)
A.隔聲層與缺陷延伸方向平行
B.隔聲層與缺陷延伸方向垂直
C.垂直與缺陷延伸方向移動(dòng)
D.平行與缺陷延伸方向移動(dòng)
A.底面回波幅度降低量≥12dB 者
B.缺陷回波幅度達(dá)到距離-波幅曲線者
C.不論缺陷回波高低,認(rèn)為是線狀或片狀缺陷者
D.底面回波幅度增加量≥12dB 者
A.開(kāi)箱點(diǎn)數(shù)
B.技術(shù)性能
C.質(zhì)量保證能力
D.技術(shù)資料歸檔
最新試題
表面波檢測(cè)中,利用表面波檢測(cè)()效果好。
顯影斑紋呈黑色條狀或?qū)拵?,在整張底片范圍出現(xiàn),其產(chǎn)生的原因是()。
潤(rùn)濕是受檢表面附著的氣體被滲透液體所取代的現(xiàn)象,發(fā)生潤(rùn)濕時(shí)()。
采用橫波斜探頭在圓柱曲面外圓進(jìn)行周向檢測(cè)時(shí),缺陷定位說(shuō)法正確的有()。
磁場(chǎng)信號(hào)測(cè)量中可采用()方法。
滲透檢測(cè)時(shí),滲入的滲透液有一些被截留在缺陷內(nèi),將受檢部位置于合適的光源(發(fā)光強(qiáng)度足夠)下檢查時(shí),下列說(shuō)法正確的有()。
超聲波檢測(cè)發(fā)現(xiàn)缺陷,在不同的方向上檢測(cè),缺陷回波呈現(xiàn)此起比伏互相彼連的狀態(tài),判定為()。
對(duì)滲透探傷無(wú)影響的是()。
對(duì)漏磁檢測(cè)原理描述正確的有()。
人的眼睛在強(qiáng)光下,()。