填空題探頭指向角是晶片尺寸和介質中波長的()。它隨頻率的增加、晶片直徑的減小而()。
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超聲波檢測發(fā)現(xiàn)缺陷,在不同的方向上檢測,缺陷回波呈現(xiàn)此起比伏互相彼連的狀態(tài),判定為()。
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