A.有顯像劑,有顯示
B.沒有顯像劑,有顯示
C.沒有顯像劑,無顯示
D.有顯像劑,無顯示
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A.弧坑裂紋
B.焊趾裂紋
C.焊道下裂紋
D.根部裂紋
A.偏離
B.雙峰
C.擴(kuò)散
D.聚焦
A.凸膜對液體附加壓強(qiáng)指向液體內(nèi)部,為負(fù)
B.凸膜對液體附加壓強(qiáng)指向液體內(nèi)部,為正
C.凹膜對液體附加壓強(qiáng)指向液體外部,為負(fù)
D.凹膜對液體附加壓強(qiáng)指向液體外部,為正
A.表面裂紋
B.近表面裂紋
C.近表面夾渣
D.表面氣孔
A.補(bǔ)償塊
B.補(bǔ)償粉
C.補(bǔ)償泥
D.補(bǔ)償液
A.各磁疇磁矩方向相互抵消
B.各磁疇磁矩方向相互疊加
C.對外顯示磁性
D.對外顯示不出磁性
A.固-氣界面消失
B.固-液界面消失
C.形成新的固-氣界面
D.形成新的固-液界面
A.能量不集中
B.能量集中
C.缺陷定量精度低
D.分辨率高
A.定期接通電源開機(jī)幾次
B.定期接通電源開機(jī)一次
C.開機(jī)時間約為30分鐘
D.開機(jī)時間約為10分鐘
A.冷暗處
B.高溫
C.干燥
D.陽光直射
最新試題
大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用()填補(bǔ)工件的較薄部分,使透照厚度差減小的方法。
與一次射線相比,散射線的()。
對滲透探傷無影響的是()。
單晶體金屬特點(diǎn)有()。
在氣候潮濕地區(qū)或潮濕季節(jié),儀器長期不用,應(yīng)做到(),以驅(qū)除潮氣,防止儀器內(nèi)部短路或擊穿。
用雙晶探頭檢測時,為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度,檢測細(xì)長缺陷應(yīng)使探頭()。
滲透檢測時,滲入的滲透液有一些被截留在缺陷內(nèi),將受檢部位置于合適的光源(發(fā)光強(qiáng)度足夠)下檢查時,下列說法正確的有()。
對漏磁檢測原理描述正確的有()。
鑄件熒光滲透檢測時,()。
超聲波探傷儀要盡量避免在()場合使用。