以下試塊中，能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是（）

物質(zhì)對(duì)輻射的吸收是隨什么而變（）

在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)（r、R為簡(jiǎn)體的內(nèi)、外徑），斜探頭（β為折射角）的臨界角應(yīng)滿足（）

底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是（）

對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷，一般采用（）檢測(cè)。

一般認(rèn)為表面波探測(cè)的有效深度約為（）

底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān)，觀片燈亮度改變，最佳黑度值也將改變。

底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是（）

當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí)，部分被物體吸收，部分則穿透該物體，還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射，此散射為（）

通常所謂20KV的X射線是指（）