A.不需要特殊的光源
B.滲透液滲入缺陷速度較快
C.檢測靈敏度高易于檢測小缺陷
D.便于在現(xiàn)場遠距離進行操作
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A.100毫米
B.越近越好
C.越遠越好
D.300毫米
A.測定粘度
B.測定侵濕性
C.人工裂紋對比試塊
D.測定染色度
A.滲透
B.清洗
C.觀察
D.顯像
E.上述都包括
A.近表面缺陷
B.表面和近表面缺陷
C.表面缺陷
D.內(nèi)部缺陷
A.與被檢表面形成高對比度
B.與被檢表面形成低對比度
C.能粘附在被檢工件表面上
D.磁導率越低越好
A.縱向磁場、橫向缺陷
B.周向磁場、縱向缺陷
C.縱向磁場、縱向缺陷
D.周向磁場、橫向缺陷
A.表面裂紋形成的強
B.近表面裂紋形成的強
C.兩者無區(qū)別
D.上述都不對
A.材料被磁化難易程度
B.材料中磁場的穿透深度
C.工件需要退磁時間的長短
D.保留磁場的能力
A.檢測非鐵磁性材料表面和近表面缺陷
B.檢測鐵磁性材料表面和近表面缺陷
C.檢測鐵磁性材料內(nèi)部缺陷
D.各種不同材料的分選
A.探測熱影響區(qū)裂縫
B.探測可能影響斜探頭探測結(jié)果的分層
C.提高焊縫兩側(cè)母材驗收標準,以保證焊縫質(zhì)量
D.以上都對
最新試題
調(diào)節(jié)掃描速度時,應使()同時對準相應的水平刻度值。
若評片燈亮度增為原來的兩倍,則底片透光度(It/I0)變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>
發(fā)生康普頓散射的條件是()
下列對耦合劑應該具有的特點的描述,不正確的一項是()
一般認為表面波探測的有效深度約為()
一個均勻的輻射光束強度為I0的射線,穿過一個厚度為X的物質(zhì),其強度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
原子是元素的具體存在,是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。
探頭的分辨力()
對于平行于檢測面的缺陷,一般采用()檢測。
超聲波斜探頭的K值等于()的正切值。