A.增益或衰減量
B.增益
C.衰減
D.抑制
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A.C
B.T
C.W
D.S
A.5
B.3
C.2
D.4
A.縱波
B.切變波
C.橫波
D.以上均不正確
A.橫波比縱波波長(zhǎng)短
B.橫波在材料中不易發(fā)散
C.橫波的質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向?qū)θ毕葺^敏感
D.橫波比縱波的波長(zhǎng)要長(zhǎng)
A.交變應(yīng)力
B.彎曲應(yīng)力
C.壓應(yīng)力
D.扭曲應(yīng)力
A.日常性能校驗(yàn)
B.季度性能檢查
C.一般性能檢查
D.特殊性能檢查
A.逆壓電
B.正壓電
C.壓電
D.壓差
A.逆壓電
B.正壓電
C.壓電
D.壓差
A.確定缺陷深度
B.評(píng)定表面缺陷
C.作為評(píng)定長(zhǎng)條形缺陷的標(biāo)準(zhǔn)
D.作為評(píng)定點(diǎn)狀缺陷的標(biāo)準(zhǔn)
A.減小
B.增大
C.不變
D.可增大或減小
最新試題
以下試塊中,能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是()
對(duì)于鉬靶X射線管,在管電壓低于()千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。
一般認(rèn)為表面波探測(cè)的有效深度約為()
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是()
超聲波斜探頭的K值等于()的正切值。
下列對(duì)耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述,不正確的一項(xiàng)是()
射線照片上一個(gè)細(xì)節(jié)的影像是否能被眼睛識(shí)別出來(lái),最主要的是決定于()
原子是元素的具體存在,是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。
最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為()
物質(zhì)對(duì)輻射的吸收是隨什么而變()