A.Al3+
B.Eu2+
C.Cu2+
D.TI2+
E.Se2+
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A.光激勵(lì)存儲(chǔ)熒光體
B.非晶硒等光電轉(zhuǎn)換晶體
C.稀土
D.影像增強(qiáng)器
E.光電倍增管
A.影像板上的信息可永久保存
B.影像板上的信息為模擬信號(hào)
C.影像板可反復(fù)使用
D.影像板代替膠片保存X線影像
E.影像板信息未讀取時(shí)呈潛影狀態(tài)
A.灰階處理
B.窗位處理
C.時(shí)間減影處理
D.能量減影處理
E.磁信號(hào)處理
A.3~4倍
B.6~8倍
C.5~9倍
D.1~2倍
E.以上都不是
A.均需要X線照射
B.均為灰度圖像
C.均為重疊圖像
D.均為二維圖像
E.均由像素組成,觀察分析相同
A.10%~20%
B.20%~30%
C.30%~40%
D.40%~50%
E.50%~60%
A.60%以上
B.50%以上
C.20%以上
D.30%以上
E.40%以上
A.灰階處理
B.窗位處理
C.偽彩處理
D.數(shù)字減影處理
E.X線吸收率減影處理
A.8位
B.14位
C.4位
D.16位
E.以上都不是
A.常規(guī)X線攝影信息數(shù)字化
B.圖像分辨率、顯示力高
C.降低X線的輻射量
D.時(shí)間、空間分辨力不足
E.實(shí)現(xiàn)X線信息的數(shù)字化儲(chǔ)存、再現(xiàn)及傳輸
最新試題
直接FPD可以由()直接獲得像素位置信息
CR圖像處理不包括()
CR系統(tǒng)中,直接記錄X線影像信息的載體是()DR使用的檢測(cè)裝置是()
屏/片系統(tǒng)成像與數(shù)字平板X線攝影的共同之處是()
數(shù)字化X射線成像系統(tǒng)的量子檢測(cè)率可達(dá)()
CR的圖像處理功能,不包括()
從X線到影像按"潛影→可見光→數(shù)字影像"這一程序轉(zhuǎn)換的是()
關(guān)于IP的敘述錯(cuò)誤的是()
應(yīng)用非晶硒和薄膜晶體管陣列技術(shù)制成的探測(cè)器是()
多絲正比電離室探測(cè)器是()