A.光源
B.原子化器
C.單色器
D.檢測(cè)器
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A.激發(fā)光源
B.鎢燈
C.空心陰極燈
D.能斯特?zé)?/p>
A.原子吸收光譜
B.紫外光譜
C.可見(jiàn)分子光譜
D.紅外光譜
E.拉曼光譜
F.原子發(fā)射光譜
A.一定要選擇待測(cè)元素的共振線作分析線,絕不可采用其他譜線作分析線。
B.在維持穩(wěn)定和適宜的光強(qiáng)條件下,應(yīng)盡量選用較低的燈電流
C.對(duì)于堿金屬元素,一定要選用富燃火焰進(jìn)行測(cè)定
D.消除物理干擾,可選用高溫火焰
A.原子化效率高
B.光源發(fā)出的特征輻射只能被特定的基態(tài)原子所吸收
C.檢測(cè)器靈敏度高
D.原子蒸氣中基態(tài)原子數(shù)不受溫度影響
A.分子中電子能級(jí)躍遷
B.轉(zhuǎn)動(dòng)能級(jí)躍遷
C.振動(dòng)能級(jí)躍遷
D.原子最外層電子躍遷
A.中心頻率和譜線半寬度
B.峰高和譜線半寬度
C.特征頻率和峰值吸收系數(shù)
D.基態(tài)原子
A.待測(cè)原子與同類(lèi)原子的碰撞引起譜線中心頻率發(fā)生位移
B.待測(cè)原子與其原子的碰撞引起譜線變寬
C.待測(cè)原子的熱運(yùn)動(dòng)引起譜線變寬
D.待測(cè)原子受到同位素原子的影響引起譜線中心頻率發(fā)生位移
A.原子的熱運(yùn)動(dòng)
B.原子與其他粒子的碰撞
C.原子與同類(lèi)原子的碰撞
D.外部電場(chǎng)對(duì)原子的影響
A.波長(zhǎng)和激發(fā)電位都應(yīng)接近
B.波長(zhǎng)和激發(fā)電位都不一定接近
C.波長(zhǎng)要接近,激發(fā)電位可以不接近
D.波長(zhǎng)不一定接近,但激發(fā)電位要相近
A.I-N基
B.ΔS-lgc
C.I-lgc
D.S-lgN基
最新試題
ICP光譜儀中的等離子炬管有三種氣體通過(guò),它們分別是()。
ICP-AES法中檢出限高低取決于()。
選用ICP-AES儀器,同時(shí)可以進(jìn)行()。
X射線熒光光譜玻璃熔片法采用的鉑金坩堝Pt與Au的比例一般是()。
鋼鐵中以下元素能夠使用紅外線吸收法測(cè)量的是()。
電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀包括()。
ICP光譜干擾包括()。
ICP所用的氣動(dòng)霧化器有三種基本類(lèi)型,它們分別是()。
ICP-AES法測(cè)量分析試樣時(shí),所選擇的光譜分析線是()。
鋼鐵中氫含量采用脈沖加熱熔融熱導(dǎo)法測(cè)定時(shí),根據(jù)熱導(dǎo)池輸出電流值與氫的濃度關(guān)系,從校準(zhǔn)曲線上得到氫含量。