A、tp=1+rp
B、R=rp2
C、D=1-rp2
D、以上都不對
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A、(Z2-Z1)/(Z1+Z2)
B、2Z2/(Z1+Z2)
C、4Z1×Z2/(Z1+Z2)2
D、[(Z2-Z1)/(Z1+Z2)]2
A、1/2波長的整數(shù)倍時
B、1/2波長的奇數(shù)倍時
C、1/4波長的奇數(shù)倍時
D、1/4波長的整數(shù)倍時
A、底波被較大的面積性缺陷反射
B、底波被較小的單個球狀缺陷反射
C、底波的能量被轉換為電能而吸收
D、以上都可能
A、3200和3200
B、3200和5900
C、5900和5900
D、以上都不對
A、特性
B、形狀
C、方向
D、以上都不對
A、橫向和縱向兩種振動的合成
B、直線振動
C、斜振動
D、S振動
A、按質點振動方向分類
B、按波的形狀分類
C、按振動所持續(xù)的時間分類
D、以上都對
A、波高
B、能量
C、持續(xù)時間
D、波幅高度
A、連續(xù)波
B、脈沖波
C、近場波
D、以上都不對
最新試題
掃查方式一般視試件的()而定。
鑄件超聲檢測的特點是常采用低頻聲被以減輕衰減和散射,相應的可檢缺陷尺寸()
對檢測儀的時間基線進行校正后,缺陷的埋藏深度可從熒光屏的()上讀出。
渦流檢測線圈的自感式線圈由()構成。
采用以()為橫坐標,以平底孔直徑標注各當量曲線作成實用AVG曲線。
對于長條形試件,則常沿()作平行縱軸的直線式掃查。
當缺陷面積大于聲束截面時,如果聲束軸線移到缺陷邊緣,缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時波高的()
在遠場區(qū),當缺陷比聲束截面小時,缺陷波高與缺陷面積成()
各類渦流檢測儀器的工作原理和()是相同的。
掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束(),保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。