A、探測(cè)深度大
B、檢測(cè)速度快
C、費(fèi)用低
D、以上都對(duì)
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A、24°
B、27°
C、37°
D、48°
A、減小
B、增大
C、不變
D、既可增大又可減小
A、氣體
B、液體
C、固體
D、以上都不對(duì)
A、波幅增益量
B、缺陷當(dāng)量尺寸
C、距離
D、以上都不對(duì)
A、遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)
B、近場(chǎng)區(qū)
C、過(guò)渡區(qū)
D、陰影區(qū)
A、大于實(shí)際尺寸
B、小于實(shí)際尺寸
C、接近實(shí)際尺寸
D、有較大誤差
A、近場(chǎng)區(qū)
B、擴(kuò)散區(qū)
C、非擴(kuò)散區(qū)
D、盲區(qū)
A、表面波
B、板波
C、疏密波
D、剪切波
A、障礙物對(duì)超聲波的傳播幾乎沒有影響
B、波到達(dá)障礙物后形成新的波源向四周發(fā)射
C、超聲波將發(fā)生反射、折射和透射
D、有如射波的反射和透射
A、θ=57λ/D
B、θ=57λ/b
C、θ=57λ/a
D、B和C都對(duì)
最新試題
采用以()為橫坐標(biāo),以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實(shí)用AVG曲線。
當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時(shí),如果聲束軸線移到缺陷邊緣,缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時(shí)波高的()
當(dāng)波束中心線與缺陷面()且回波最()時(shí),移動(dòng)探頭使波束中心(),回波高度當(dāng)隨之下降。
渦流檢測(cè)線圈的互感線圈一般由()構(gòu)成。
波束截面中心聲能(),隨著與中心的距離的增大,聲能()
()件對(duì)不同類型的檢測(cè)對(duì)象和要求,采用的方式各有不同。
對(duì)檢測(cè)儀的時(shí)間基線進(jìn)行校正后,缺陷的埋藏深度可從熒光屏的()上讀出。
隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展,出現(xiàn)了多種型號(hào)的同時(shí)具備探傷、電導(dǎo)率測(cè)量()測(cè)量功能的通用型儀器。
在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū),當(dāng)缺陷比聲束截面小時(shí),缺陷波高與缺陷面積成()
對(duì)于長(zhǎng)條形試件,則常沿()作平行縱軸的直線式掃查。