A、底波計算法
B、試塊法
C、通用AVG曲線法
D、以上都可以
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A、直探頭
B、斜探頭
C、雙晶探頭
D、以上都可以
A、1MHzφ14mm
B、2.5MHzφ14mm
C、1MHzφ20mm
D、25MHzφ30mm
A、無背襯石英探頭
B、帶酚醛樹脂背襯的石英探頭
C、帶酚醛樹脂背襯的鈦酸鋇探頭
D、帶環(huán)氧樹脂背襯的硫酸鋰探頭
A、頻率為2.5MHz
B、圓晶片直徑為20㎜
C、晶片材料為鈦酸鋇陶瓷
D、以上都對
A、電源電路、同步電路
B、發(fā)射電路、時基掃描電路
C、接收電路、顯示電路
D、以上都是
A、探測頻率
B、缺陷方向
C、缺陷部位
D、鋼板的厚度
A、機電耦合系數(shù)
B、壓電應(yīng)變常數(shù)
C、壓電電壓常數(shù)
D、機械品質(zhì)因子
A、機電耦合系數(shù)
B、壓電應(yīng)變常數(shù)
C、機械品質(zhì)因子
D、壓電電壓常數(shù)
A、機電耦合系數(shù)
B、機械品質(zhì)因子
C、壓電應(yīng)變常數(shù)
D、壓電壓常數(shù)
A、機電耦合系數(shù)
B、品質(zhì)因素
C、機械品質(zhì)因子
D、壓電電壓常數(shù)
最新試題
渦流檢測線圈的互感線圈一般由()構(gòu)成。
在聲束垂直試件表面時,所獲得的()反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。
缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括()、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。
在遠場區(qū),當缺陷比聲束截面小時,缺陷波高與缺陷面積成()
對于長條形試件,則常沿()作平行縱軸的直線式掃查。
渦流檢測輔助裝置的試樣傳動裝置用于形狀規(guī)則產(chǎn)品的()
各類渦流檢測儀器的工作原理和()是相同的。
當缺陷面積大于聲束截面時,如果聲束軸線移到缺陷邊緣,缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時波高的()
直接射向缺陷的波就是()
當波束不再與缺陷相遇,則回波()