A、機電耦合系數(shù)
B、壓電應(yīng)變常數(shù)
C、機械品質(zhì)因子
D、壓電電壓常數(shù)
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A、機電耦合系數(shù)
B、機械品質(zhì)因子
C、壓電應(yīng)變常數(shù)
D、壓電壓常數(shù)
A、機電耦合系數(shù)
B、品質(zhì)因素
C、機械品質(zhì)因子
D、壓電電壓常數(shù)
A、小數(shù)
B、負(fù)數(shù)
C、常數(shù)
D、對數(shù)
A、(Z1Z3)1/2
B、Z1Z3
C、Z1/Z3
D、Z3/Z1
A、r/D<86%時,用K=1的探頭
B、r/D≤96%時,用K=2的探頭
C、r/D≤97.5%時,用K=2.5的探頭
D、以上都對
A、CL:CS:CR≈1.8:2.0:1
B、CL:CS:CR≈1:1:1
C、CL:CS:CR≈1.8:1.0:0.9
D、CL:CS:CR≈1:2.0:4
A、1/2倍
B、1/4倍
C、2倍
D、4倍
A、第三臨界角
B、第一臨界角
C、第二臨界角
D、半擴散角
A、第二臨界角
B、第一臨界角
C、第三臨界角
D、以上都不對
A、橫波波全反射
B、縱波波全反射
C、表面波全反射
D、以上都不對
最新試題
對于圓盤形試件,常沿()在圓面上進(jìn)行掃查。
直接射向缺陷的波就是()
對于長條形試件,則常沿()作平行縱軸的直線式掃查。
當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時,如果聲束軸線移到缺陷邊緣,缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時波高的()
掃查方式一般視試件的()而定。
渦流檢測線圈是在被檢測導(dǎo)電材料或零件表面及近表面激勵產(chǎn)生()
渦流檢測線圈的互感線圈一般由()構(gòu)成。
在聲束垂直試件表面時,所獲得的()反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。
用于測量黑光強度的現(xiàn)代黑光輻射照度計,其探頭(傳感器)的光敏組件的前面有(),只適用于測量黑光。
對于接觸法只須將能使缺陷落在其遠(yuǎn)場區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動,即可獲得缺陷的()所在的位置,從而定出缺陷的平面位置。