A.風險源
B.風險點
C.風險源、風險點
D.知識
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A.檢修
B.不合格
C.合格
D.合格和不合格
A.合格品、不合格品
B.合格品、不合格品、待檢品
C.不合格品、待檢品
D.合格品、待檢品
A.反射
B.折射
C.衍射
D.散射
A.降低
B.升高
C.不確定
D.先升高再降低
A.只能承受剪切應(yīng)力,不能承受壓應(yīng)力
B.只能承受壓應(yīng)力,不能承受剪切應(yīng)力
C.能承受壓應(yīng)力和剪切應(yīng)力
D.以上都不對
A.相速度,頻速度
B.群速度,相速度
C.相速度,群速度
D.頻速度,相速度
A.相速度
B.頻速度
C.群速度
D.以上都不對
A.相速度
B.頻速度
C.群速度
D.以上都不對
A.相速度和頻速度
B.群速度和頻速度
C.相速度和群速度
D.以上都不對
A.板厚
B.頻率
C.聲速
D.板厚,頻率,聲速
最新試題
最容易發(fā)生康普頓效應(yīng)的射線能量為()
下列對耦合劑應(yīng)該具有的特點的描述,不正確的一項是()
對于平行于檢測面的缺陷,一般采用()檢測。
底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是()
物質(zhì)對輻射的吸收是隨什么而變()
二次波檢測是一種特殊的檢測工藝,以下關(guān)于二次波檢測的做敘述,哪一條是錯誤的()
超聲波斜探頭的K值等于()的正切值。
光電效應(yīng)發(fā)生的機率隨什么變化()
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是()