一般認(rèn)為表面波探測(cè)的有效深度約為（）

以下耦合劑中，可用于粗糙表面檢測(cè)的是（）

一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響（）

調(diào)節(jié)掃描速度時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。

底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是（）

最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為（）

物質(zhì)對(duì)輻射的吸收是隨什么而變（）

底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是（）

在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)（r、R為簡(jiǎn)體的內(nèi)、外徑），斜探頭（β為折射角）的臨界角應(yīng)滿足（）