二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝，以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（）

物質(zhì)對(duì)輻射的吸收是隨什么而變（）

當(dāng)射線(xiàn)穿透任何一物體時(shí)，部分被物體吸收，部分則穿透該物體，還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射，此散射為（）

底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是（）

使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是（）

光電效應(yīng)發(fā)生的機(jī)率隨什么變化（）

對(duì)軸類(lèi)鋼制鍛件，用2.5P14的直探頭，在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí)，該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于（）

底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是（）

底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是（）

以下試塊中，能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是（）