A.較低頻率探頭和較粘的耦合劑
B.較低頻率探頭和粘度較小的耦合劑
C.較高頻率探頭和較粘的耦合劑
D.較高頻率探頭和粘度較小的耦合劑
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A.50萬輛
B.60萬輛
C.70萬輛
D.90萬輛
A.當量法
B.缺陷回波高度法
C.底面回波高度法
D.延伸度定量評定法
A.是所加電脈沖持續(xù)時間的函數(shù)
B.是儀器接收器放大特性的函數(shù)
C.是晶片厚度的函數(shù)
D.以上都不對
A.大于入射角
B.小于入射角
C.等于入射角
D.在臨界角之外
A.入射縱波軸線與通過入射點法線的夾角
B.入射橫波軸線與通過入射點法線的夾角
C.傾斜晶片與探測面的夾角
D.入射波軸線與界面的夾角
A.0.2mm
B.0.4mm
C.0.8mm
D.1.6mm
A.水溫升高,聲速變大
B.水溫升高,聲速變小
C.水溫升高,聲速不變
D.呈波浪型變化
A.波束邊沿最大
B.波束中心最大
C.波束中心與邊沿一樣大
D.與波束寬度成反比
A.圓柱形曲面
B.球形曲面
C.正方形
D.棱形
A.介質(zhì)的密度與彈性
B.質(zhì)點在介質(zhì)中振動的方式
C.a和b都是
D.聲阻抗
最新試題
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()
底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關系是()
在筒身外壁做曲面周向探傷時(r、R為簡體的內(nèi)、外徑),斜探頭(β為折射角)的臨界角應滿足()
一個均勻的輻射光束強度為I0的射線,穿過一個厚度為X的物質(zhì),其強度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
物質(zhì)對輻射的吸收是隨什么而變()
影響較大的散射線通常來自()
底片清晰度與膠片顆粒度的關系是()
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關,觀片燈亮度改變,最佳黑度值也將改變。
不同材料的相對吸收系數(shù)()
最容易發(fā)生光電效應的射線能量為()